Testlösungen für drahtlose Bauelemente

Advantest Corporation, Anbieter von Halbleiter-Testlösungen, hat zwei neue Testmodule für den schnellen, kostengünstigen Test von HF-ICs (Hochfrequenz) vorgestellt, die in Mobiltelefonen und WLAN-Geräten der Kommunikationsstandards 802.11ac und LTE-Advanced eingesetzt werden. Sowohl das 32-kanalige WLS32-A Modul als auch das 16-kanalige WLS16-A sind zur weit verbreiteten T2000 Plattform des Unternehmens voll kompatibel. Die neuen Module nutzen eine Vektor-Signalgenerator- (VSG) und Vektor-Signalanalyse-Software (VSA), um die Herausforderungen der großen Modulationsbandbreite der heutigen fortschrittlichen mobilen Elektronikgeräte erfüllen zu können. Die Module bieten eine Modulationsbandbreite von 80MHz und enthalten eine Signalgenerator-und Modulationsanalyse-Software für 802.11ac und LTE-Advanced Protokolle.

“Mit diesen neuen Modulen stellen wir unseren Kunden erneut vielseitige Testlösungen zur Verfügung, die für die Serienproduktion von mobilen Kommunikationsgeräten benötigt werden, aber nur eine minimale Investition erfordern“, sagt Dr. Toshiyuki Okayasu, Executive Officer und Executive Vice President der SoC Test Business Group des Unternehmens. Die flexible T2000 Plattform verfügt über eine skalierbare Architektur, mit der die Kunden Module austauschen und das System für den Test praktisch aller Halbleiter-Bauteile konfigurieren können. Dadurch lässt sich der Tester für aktuelle und künftige Testanforderungen anpassen. Die meisten anderen Systeme sind dagegen auf eine bestimmte Systemkonfiguration festgelegt. Die Testsysteme der Familie T2000 werden von IDMs (Integrated Device Manufacturer), Fabless-Unternehmen und OSAT-Foundries (Outsourced Semiconductor Assembly and Test) auf der ganzen Welt beim Design und in der Produktion der weltweit fortschrittlichsten Halbleiter eingesetzt. Die Auslieferung der T2000 WLS32-A und WLS16-A Module beginnt voraussichtlich im zweiten Quartal dieses Jahres.