Testlösungen für NAND-Flash-Bauteile

Advantest Corporation stellt zwei neue Lösungen für den Test von NAND-Flash-Speicherbauteilen der nächsten Generation vor: das T5773 für den Test von Bauteilen im Gehäuse und das auf der Harmonic Architektur basierende HA5100CELL für den Wafertest. Zusammen bieten die Tools eine umfassende Unterstützung für den Test von schnellen Die Harmonic Architektur (HA) ist eine neue, innovative Plattform: eine All-in-One-Wafer-Testlösung, die einen Tester und Prober, sowie vier Testzellen in einem einzigen Tool kombiniert. Da vier Wafer auf einmal getestet werden können, ist das HA5100CELL ein dedizierter NAND-Flash-Speichertester, der gegenüber bisherigen Systemen nur ein Viertel der Grundfläche benötigt. Das System bietet eine Arbeitsfrequenz von 100 MHz und eine maximale parallele Testkapazität von 6.144 DUTs. Diese Innovation ermöglicht gegenüber bisherigen Testzellen eine Einsparung von 50 % der Testkosten. Das System nutzt eine von Advantest entwickelte Kontaktkonformitätstechnologie, die einen Test großer Stückzahlen mit einer einzigen Kontaktierung ermöglicht. Mit dem HA5100ES ist auch ein Engineering System für die Bauteil-Evaluierung in der Forschung und Entwicklung verfügbar.

Das T5773 ist ein Testsystem für NAND-Flash-Speicher im Gehäuse, das sehr schnelle Schnittstellen für SSDs, Endgeräte und andere Anwendungen unterstützt. Es erfüllt damit die Testanforderungen von Bauteiltypen, die gegenüber bisherigen Typen die vierfache Testgeschwindigkeit erfordern. Das System bietet eine Arbeitsfrequenz von 200 MHz/400 Mbps und eine typische parallele Testkapazität von 768 DUTs. Zusätzlich gewährleistet das innovative Design deutliche Einsparungen beim Energieverbrauch und dem Platzbedarf, so dass die Testkosten drastisch gesenkt werden können. Auch als ein Engineering System für den Einsatz in der Forschung und Entwicklung geeignet.