Tomographie-Analysesystem für Elektroden

Advantest Corporation kündigt die Entwicklung eines THz-TOF-Tomographie-Analysesystems (Terahertz Time-of-Flight) an, das mit kurzen, breitbandigen THz-Wellen-Impulsen arbeitet. Das neue System erlaubt eine Darstellung und Analyse von mehrschichtigen Beschichtungen bis zu einer Dicke von 10μm und eignet sich damit für die Untersuchung von Elektrodenfilmen in Li-Ion-Batterien und den Schichten in mehrschichtigen Lacken von Autos und anderen neuen Anwendungen.

Das System verwendet eine Cherenkov-THz-Strahlungsquelle auf der Basis von nichtlinearen Kristallen (LiNbO³;LN). Die Cherenkov-Phasenabstimmungsmethode nutzt eine proprietäre vom Unternehmen entwickelte Halbleiterlinse, die eine Erzeugung von kurzwelligen THz-Impulsen und Pseudo-Einzelimpulsen ermöglicht. Diese sind ideal für die Analyse reflektierender Signale, lassen sich aber nicht mit photoleitenden Elementen generieren. Dieses Merkmal vereinfacht die kontaktlose Imaging-Analyse von Schichten bis hinab zu einer Dicke von 10μm. Das Unternehmen startete den Vertrieb des ersten 3D-Imaging-Systems auf der Basis der THz-Technologie im April 2010 und hat seitdem diese Produktfamilie mit innovativen zerstörungsfreien, kontaktfreien Analyse-Lösungen für keramische Produkte und Arzneimittel erweitert. Das neu entwickelte System verwendet die THz-Technologie nun für die Analyse von Elektrodenfilmen in Li-Ion-Batterien, von mehrschichtigen Lacken im Automobilbereich und anderen Anwendungen, die außerhalb des Einsatzbereiches von konventionellen Ultraschall- und Infrarotanalysesystemen liegen. Mittlerweile entwickelt das Unternehmen seine Analysetechnologie weiter, um optimale Lösungen auch für die Analyse von Materialproben mit größerer Funktionalität und komplexeren internen Strukturen liefern zu können.