Am 12. Mai 2011 veranstalten Konrad Technologies und National Instruments zum zehnten Mal den Technologietag zum Thema Automatisierter Test, der in diesem Jahr in Sindelfingen statt findet. Gemeinsam mit weiteren Partnerfirmen werden Entscheider und Testingenieure eingeladen, sich umfassend über Trends, Technologien und konkrete Lösungen zu informieren. Elektronikbaugruppen modernster Technologie verfügen heutzutage über extreme Komplexität, hohe Packungsdichte und Funktionalität mit gleichzeitig zunehmendem Kostendruck. Mehr denn je nimmt die Prüftechnik in der Elektronikfertigung eine Schlüsselposition ein und Testingenieure stehen bei der Erstellung von Testsystemen vor großen Herausforderungen. Dazu gehört vorrangig die Maximierung der Testabdeckung, die durch Kombination verschiedener Testverfahren erreicht wird. Die in der Vergangenheit existierenden scharfen Abgrenzungen von spezialisierten Testsystemen je nach Testverfahren, vermischen sich dabei mehr und mehr und sorgen so für eine Bildung von Synergien. Neu entwickelte, effiziente Verfahren aus dem Halbleitertest sind auch in Funktionstestsystemen anwendbar. Der ATE-Technologietag bietet in zwei parallel stattfindenden Vortragsreihen zu den Themen Funktionstest, Incircuittest, Boundary-Scan-Test sowie mechanischen Handlingsystemen umfangreiche Informationsmöglichkeiten. Einen speziellen Stellenwert nehmen die Themen HF-Test sowie Halbleitertest ein. Informiert wird über die vielseitigen Einsatzmöglichkeiten des „Zero Footprint“ Halbleitertestsystems KT-7000 FINN, basierend auf FPGA-Technologie im PXI/ABex Formfaktor, in der Prozesskontrolle, der Device-Entwicklung und Charakterisierung sowie im Wafer-Sort und Final Test. In den Pausen, im Anschluss an die Vorträge und während der Podiumsdiskussion bietet sich die Möglichkeit, mit Experten und Fachkollegen zu diskutieren. Eine begleitende Ausstellung von führenden Firmen aus der Branche gibt tieferen Einblick in realisierte Projekte und verwendete Technologien.
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