Am 27. und 28. Oktober 2010 fand zum 15. Mal der Technologie- und Anwenderkongress VIP 2010 „Virtuelle Instrumente in der Praxis“ mit über 600 Teilnehmern statt. Technologie- und Anwendervorträge rund um die Mess- und Automatisierungstechnik, Workshops sowie eine große Fachausstellung mit über 30 Produktpartnern und Systemintegratoren machten den Kongress wieder zu einer einzigartigen Wissensplattform mit einem breit gefächerten Themenangebot.
Ab sofort läuft nun das Call for Papers für den 16. Technologie- und Anwenderkongress VIP 2011, der am 12. und 13. Oktober 2011 wieder im Veranstaltungsforum Fürstenfeld bei München stattfinden wird. Anwender haben die Möglichkeit, ihre Lösungen mit Hard- und Software von National Instruments auf dem VIP-Kongress 2011 vorzustellen. Von Problem- und Lösungsbeschreibungen aus der computerbasierten Messtechnik, der Industrieautomatisierung und dem Automobilbereich bis hin zu Projekten in Forschung und Lehre – der VIP-Kongress bietet eine Plattform für Entscheidungsträger, Ingenieure, Programmierer und Entwickler aus den vielfältigsten Einsatzbereichen der Produkte des Unternehmens. Die interessantesten vom Kongresskomitee ausgewählten Einsendungen werden auf dem VIP-Kongress dem hochqualifizierten Publikum als Vortrag präsentiert und im begleitenden Tagungsband zum Kongress veröffentlicht. Zudem prämiert das Kongresskomitee den interessantesten Beitrag zum VIP-Kongress 2011 mit dem „Best Paper Award“. Dem Gewinner winkt eine kostenlose Teilnahme an der NIWeek 2012 inklusive Flugticket nach Austin, Texas.
Unsere Webinar-Empfehlung
Die Zuhörer erhalten Informationen zur Effizienzsteigerung von AOI-Systemen bei Nutzung von Digitalen Zwillingen von der zu prüfende Baugruppe bzw. des eingesetzten Inspektionssystems.
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