Zusatzboard verbessert Halbleitertester

Teradyne präsentiert mit der Enhanced-Variante eine neue Version seines „Digital Channel Board“ für das Testsystem Integra J750, das sich durch eine Flanken-Platzierungsgenauigkeit von 325 ps auszeichnet. Damit ist das Testsystem für den Test von Mikro- und Baseband-Kontrollern sowie FPGAs mit Taktfrequenzen über 100 MHz geeignet, wenn es zusammen mit dem nachrüstbaren 200-MHz-Clock-Modul eingesetzt wird. Zur Aufrüstung des Systems werden verbesserte Stromversorgungen für umfangreichere Mixed-Signal-Testfähigkeiten, das 200-MHz-Clock-Modul und zahlreiche bausteinspezifische Ergänzungen wieeine MSO- und RFID-Option angeboten. Die parallelen Testfunktionen des Integra J750 liefern eine Ausbeute von 95% im Paralleltest bis maximal 32 Bausteine. Das System zeichnet sich durch die Ausbaufähigkeit auf maximal 1024 digitale Testkanäle aus und bietet eine Converter- und Memorytest-Option, Redundanzanalyse, RFID, eine Mixed-Signal-Option und eine Analogpin-Messeinheit.