Reduzierte Kosten im Prüffeld von Serienfertigung und Reparatur

Die neue kostengünstige Qmax-Systemplattformen V250/V2200, die Testerspezialist ATEip exklusiv im Programm führt, zielen insbesondere auch auf die gemischt bestückten und komplexen Mixed-Signal-Baugruppen. Die Boardtester ermöglichen eine wirtschaftliche Prüfung – und stellen dabei auch ihre hohe Leistungsfähigkeit beim Prüfen von Baugruppen mit sowohl herkömmlichen Standard-Komponenten als auch mit komplexeren PLDs, FPGAs, DSPs und Single-Chip-Mikrocontrollern unter Beweis. Die Systeme sind rasch und einfach anwendbar. Dennoch lassen sich komplexe Funktionsprüfungen komfortabel und zuverlässig mit der implementierten Funktion Card Edge Test unter Verwendung virtueller Boundary-Scan- sowie der am Board tatsächlich vorhandenen Pins durchführen. Zur Fehlersuche sind dabei leistungsfähige Softwaretools zum Backtracking und für Signaturscan vorhanden. Ein Fault Coverage Analyzer überprüft die Qualität der realisierten Tests.

Incircuit-Prüfungen werden wie üblich per Nadelbettadapter vorgenommen, natürlich sind auch Clusterprüfungen rasch und effizient möglich. Viele der aktuellen komplexen Leiterplattenentwürfe weisen immer weniger Testpunkte auf. Die funktionelle Kontrolle der Schaltungen fokussiert sich daher immer mehr auf den sogenannten Clustertest, der einem lokal begrenzten echten Funktionstest gleicht. Allerdings werden dafür weniger aktive Kanäle benötigt, denn damit überprüft man jeweils einzelne Funktionsabschnitte (Cluster) einer Baugruppe. Für jeden Pin ist dabei allerdings – in Relation zum einfachen Incircuit-Tester – volle Funktionalität in den hier relevanten Digital-, Analog- und Mixed-Signal-Eigenschaften für die entsprechenden Schaltungsbereiche gefordert. Genau diesen hohen Funktionsumfang offeriert die Qmax-Plattform bereits in sehr interessanten Basis-Kombinationen. Dabei sind sie in jede Richtung für spezifische Prüfaufgaben erweiterbar, beispielsweise mit PXI Rack und Boundary Scan usw.

Die Einstiegssystemplattform Qmax V250 ist als kompakter Desktoptester konzipiert und kann immerhin bis zu maximal 256 vollhybriden Pins ausgebaut werden. Bei Systemplattform Qmax V2200 hingegen handelt es sich trotz geringer Abmessungen im 19-Zoll-Format um eine sehr weit ausbaufähige Midrange-Version mit Zugriff auf eine größere Zahl von Optionen. Beide Testerplattformen arbeiten prinzipiell mit der gleichen Systemsoftware und fallweise identischer Hardware. Über eine Reihe verschiedener Optionen lassen sich diese Systeme flexibel erweitern, dazu gehört beispielsweise auch die komplexe Messung der Flankensteilheit digitaler Signale.

Die mit noch mehr Optionen ausbaufähige Plattform V2200 ist ebenfalls ein sehr kompaktes System, dessen Basiskonfiguration 48 High-Current-Pins umfasst und bei Bedarf bis 320/320 analog/digitale Kanäle ausgebaut werden kann, in der Summe also 640 Kanäle. In der Relation von Performance zur durchaus niedrigen Investitionshöhe handelt es sich hierbei um eine praktisch unschlagbare Kombination, die in ihrem Leistungsvermögen deutlich über typischen Mitbewerberlösungen liegt. Wobei auch noch eine PMU die Prüfung von DC-Eigenschaften der Bausteine ermöglicht.

Unter anderem steht bei der menügeführten Programmgenerierung zur Unterstützung der Schaltungsverifikation eine riesige Bibliothek von derzeit circa 34.000 unterschiedlichen Baustein-Modellen zur Verfügung, die laufend ergänzt wird. Die Anwender können jederzeit an den Modellen spezifische Anpassungen oder Änderungen vornehmen, womit die Einrichtung einer kundenspezifischen IC-Bibliothek unterstützt wird. Mit dieser Ausstattung der Plattform sind die Anwender zudem in der Lage, bei Bedarf in ihrem Wareneingang Chips und Halbleiter rasch per Clip zu überprüfen. Ein derzeit nicht zu unterschätzender Zusatznutzen.

Eine zentrale Rolle in den Testern nimmt natürlich die Software ein. Das Programmpaket TestDirektor6 mit Interactive Workstation weist grafische und Menü-Darstellungen der Prozeduren. Es zeichnet sich durch eine ganze Reihe von Funktionen und Programmmodule aus, die sowohl effizient die Erzeugung und das Debugging der Prüfprogramme unterstützen als auch die Anwendung des Systems benutzerfreundlich gestalten. Dazu gehören beispielsweise auch ein Datenformat-Support oder ein Test-Sequenzer mit dem sich auf externe Ereignisse synchronisieren lässt und somit die Prüfung von komplexen Mikroprozessoren unterstützt wird. Diese Software unterstützt natürlich auch die Optionen Boundary Scan und Bus-Cycle-Signature-System. Die Anwender können damit Prüfprogramme selbst für sehr komplexe Boards mit ASICs, DSPs und Mikroprozessoren und anderen Komponenten rasch in angemessener Zeit entwickeln und debuggen.