Das AOI-System QX500 von CyberOptics bietet dank seines Verfahrens der Bilderfassung eine weitere branchenweit führende Hochgeschwindigkeits-Inspektionslösung. Das System stellt mit verbesserten Zykluszeiten einen Quantensprung der Inspektionstechnologie, der Systementwicklung und Geschwindigkeit dar. Mit dem Strobed Inspection Module (SIM) von kann es Bauelemente ab 01005 mit 200 cm²/s inspizieren, und sichert sich so seinen Platz als schnelles flächenscannendes AOI-System in der Branche. Durch die Einführung von SIM ist es dem System möglich, On-the-fly-Inspektionen durchzu-führen. Das 3D-Lotpasten-Inspektionssystem SE500 ist dazu in der Lage, auch die anspruchsvollsten Baugruppen mit einer Geschwindigkeit >80 cm²/s zu untersuchen, ohne dabei Kompromisse bei Messge-nauigkeit und Wiederholbarkeit zu machen. Das System kann Pad- größen bis hinab zur Fläche eines 01005-Bauelements inspizieren, und dabei die ständig steigenden Geschwindigkeiten der Fertigungslinien unterstützen. Weiterhin stellt das Unternehmen seine neue interaktive SPC-Software Process Monitor vor, die es ermöglicht, die Produktion effizient zu verwalten. Mittels intelligenter statistischer Prozess-Steuerungsdiagramme kann das Potenzial des Prozesses vermessen, und signifikante Verbesserungen realisiert werden. Die im Process Monitor integrierten Echtzeit-Überwachungstools bringen SPC-Fähigkeiten direkt auf das Inspektionssystem der Fertigungslinie, während vorkonfigurierte Funktionen nach Unternehmensaussage einen raschen Zugang zu wichtigen Informationen gewähren. Diverse leistungsfähige Analysewerkzeuge ermöglichen im Zusammenspiel mit Detailfähigkeiten genaue Analysen, um so Trends zu identifizieren und die Ausbeute der Linie zu erhöhen. Der Process Monitor ist für schnelle Installation sowie einfache Bedienung ausgelegt und bietet vollständige SPC-Abdeckung für die Vorhersage und Analyse von Trends sowie um systematische Prozessprobleme zu verbessern und die Fertigungsausbeute effektiv zu steigern.
Unsere Webinar-Empfehlung
Applikationen aus dem Bereich der Leistungselektronik gewinnen immer mehr an Bedeutung. Die Inspektion dieser Applikation lässt sich mit der bewährten Standardtechnologie der 3D-Messtechnik bewerkstelligen.
Teilen: