Vision Engineering ist eine Partnerschaft mit Zeiss Industrielle Messtechnik eingegangen, um sein Angebot an Mikroskopen erstmals um ein Inspektionssystem mit erweiterter Tiefenschärfe (EDoF – Extended Depth of Focus) zu ergänzen.
DeepFocus 1 kombiniert das technische und optische Know-how von Vision Engineering mit dem neuen Digitalmikroskop-Kopf „Visioner 1“ von Zeiss und bietet dem Anwender außergewöhnliche Resultate am Bildschirm.
Das Ergebnis der Partnerschaft von Vision Engineering und Zeiss
Mit der integrierten MALS-Technologie (Micro-mirror Array Lens System) wird erstmals ein All-in-One-Focus in Echtzeit ermöglicht. Das System bietet eine größere Tiefenschärfe als jedes konventionelle Mikroskopsystem und ermöglicht es, Proben vollständig scharf in einer einzigen Ansicht zu sehen. Die schnelle Inspektion, die eine 100x mehr nutzbare, erweiterte Tiefenschärfe gewährleistet, sorgt für scharfe Bilder bis zu einer Tiefe von 69 mm und die Notwendigkeit einer zeitaufwändigen Fokusstapelung nach der Bildgebung entfällt.
Durch die Verwendung eines reflektierenden Mikrospiegel-Array-Linsensystems (MALS) können „virtuelle“ Linsen mit verschiedenen Krümmungen und damit Fokussierebenen erzeugt werden. Dies wird erreicht, durch die Änderung der Ausrichtung jedes einzelnen Mikrospiegels in einer koordinierten Weise. Die schnelle Umformung der Krümmung dieser „virtuellen“ Linse ermöglicht eine ultraschnelle Fokussierung und All-in-Focus Bildgebung und Dokumentation in Echtzeit.
Betrachtung aus jedem Blickwinkel
Die fortschrittliche 3D-Visualisierung und die erweiterte Tiefenschärfeansicht (EDoF) von DeepFocus 1 erlauben die Betrachtung der Proben oder Komponenten aus jedem Blickwinkel. Höhenprofil- und topographische Ansichten zeigen erfasste Daten, einschließlich Details aus der Z-Höhe, in einer leicht verständlichen Ansicht an. Diese drei unterschiedlichen Ansichtsmodi garantieren effizientere Fehleranalysen und Qualitätskontrollen. Zudem werden so die genaueren Ergebnisse viel schneller als mit herkömmlichen Inspektionssystemen dargestellt. (eve)
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