Die meisten digitalen Elektronik-Designs verfügen heutzutage über JTAG-/Boundary-Scan-Elemente, die strukturellen Boardtest und/oder In-System-Bauteilprogrammierung vereinfachen. Der zuverlässige und wiederholbare Zugriff auf die JTAG-Funktionen ist jedoch schon immer ein Aspekt gewesen, der von der Boundary-Scan-Technologie und den Anbietern programmierbarer Bauteile etwas vernachlässigt worden war.
Bis vor kurzem lag es im Wesentlichen in der Verantwortung des Endbenutzers, mit dem Ersteller des Funktionstestsystems oder auch einem In-Circuit-Test-Dienstleister Kontakt aufzunehmen, um sicherzustellen, dass die JTAG-Testerhardware produktionsreif ist.
Jetzt steht, durch die Verbindung zweier Testkonzepte, ein leistungsfähiges, anpassungsfähiges und kostengünstiges Benchtop-ATE-System zur Verfügung. Mit der Einführung von Multifunktions-JTAG-Testern wie der „MIOS“-Serie von JTAG Technologies erhält man ein preiswertes, kompaktes (100 mm x 100 mm) JTAG-basiertes Testsystem mit Mixed-Signal-I/O-Kanälen für Spannungsausgabe und -messung, digitale I/O-Kanäle und Frequenzmessung. Dieses Testsystem kann direkt in re-konfigurierbare Testadapter mit Nadelbett-Interface integriert werden. Lediglich ergänzt um eine Spannungsversorgung und ggf. weitere erforderliche Messsysteme entsteht eine komplette ATE-Hardware.
Jedoch fehlt noch die zu erstellende Software für die Steuerung dieser neuen ATE-Architektur. Glücklicherweise existieren hier etliche Varianten für unterschiedliche Budgets. Für die Entwicklung und Durchführung hochwertiger JTAG-Tests auf Basis der MIOS-Hardware (z. B. Scanpfad-Infrastruktur, Verbindungen sowie Logik- und Memory-Cluster), ISP (In-System-Programmierung), AD-/DA-Wandler-Tests oder Spannungsversorgungs- und Clock-Tests stehen folgende Alternativen zur Verfügung:
Skriptsprache Python — beliebt bei Ingenieuren und Wissenschaftlern. Es stehen zahlreiche Open-Source-Bibliotheken zur Steuerung von Instrumenten (z. B. GPIB, USB), seriellen Schnittstellen, JTAG-Controllern und mehr zur Verfügung. Ihre Flexibilität erlaubt ein einfaches Handling von Variablen für Schleifenverzweigungen und Datei-Ein-/Ausgaben. Bei dieser Version ist eventuell mehr Programmierarbeit erforderlich als bei anderen Versionen, jedoch stehen schon dutzende von Testmodulen für Bauteile und Logik-Cluster zur Verfügung, auf die über JTAG/Boundary-Scan zugegriffen werden kann. Zusätzlich ist eine VISA-Steuerungsbibliothek verfügbar.
LabVIEW — für Wissenschaftler mit einer Präferenz für grafische, symbolbasierte Programmierung ist National Instruments LabVIEW längst unverzichtbar, insbesondere bei Funktionstests im Mixed-Signal-Bereich. Sowohl für die Durchführung vorbereiteter Tests als auch für die hardwarenahe Steuerung der Pins von JTAG-Bauteilen existieren Steuersymbole
JTAG ProVision — für alle, die nicht programmieren möchten – weder grafisch noch textbasiert. Ein automatischer Testgenerator wie JTAG ProVision saugt die benötigten Informationen aus den CAD-Daten des Designs und den Bauteilmodellen aus einer Bibliothek mit mehr als 10.000 Bauelementen und erstellt die kompletten Testprogramme. Natürlich können diese Tests durch Skripte weiter verfeinert werden, um ein Maximum an Flexibilität und Fehlerabdeckung zu erzielen.
Darüber hinaus gibt es Unterstützung für .NET, TestStand und ATEasy sowie weitere Optionen, je nach Vorgehensweise oder persönlichen Präferenzen.
Die offene Architektur der JTAG-MIOS-Tester macht es möglich, sie in nahezu beliebige, kassettenbasierte Adapter einzubinden. Bisher wurden die MIOS-Tester schon erfolgreich in die Adaptersysteme von ATX, DD Mechatronics, Ingun und MG integriert. Das Testkonzept lässt sich jedoch problemlos mit den Systemen verschiedenster Adapter-Hersteller verknüpfen.
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