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2-in-1-Mikroskop bietet eine integrierte chemische Analyse

90 % Zeitersparnis bei der Materialanalyse
2-in-1-Mikroskop bietet eine integrierte chemische Analyse

2-in-1-Mikroskop bietet eine integrierte chemische Analyse
DM6 M LIBS Mikroskop für die Materialanalyse und -prüfung. Foto: Leica Microsystems

Mit dem neuen DM6 M LIBS Mikroskop für die Materialanalyse und -prüfung von Leica Microsystems lassen sich die zwei wesentlichen Kennzeichen von Materialien in einem Arbeitsgang analysieren: Mikrostruktur und chemische Zusammensetzung. Das Mikroskop verfügt über eine integrierte Funktion zur Laserspektroskopie (LIBS). Innerhalb einer Sekunde lassen sich für eine Struktur, die gerade im Sichtfeld betrachtet wird, Informationen zur chemischen Natur ergänzen. Im Vergleich zur bisher üblichen Downstream-Analyse mit Elektronenmikroskopie spart diese 2-in-1-Lösung bis zu 90 % Zeit.

„Nach dem, was wir von unseren Kunden hören, kann die mit dem DM6 M LIBS eröffnete neue Arbeitsweise einen langjährig etablierten, aufwendigen Workflow in nahezu allen Anwendungsbereichen ersetzen“, sagt Markus Lusser, Präsident des Unternehmens. „Wir bei Leica Microsystems sind stolz darauf, dass wir neuerlich einen Standard herausgefordert haben und am Ende eine bahnbrechend neue Lösung bieten können. Der neue Workflow ist wesentlich schneller und damit wirtschaftlicher. Die Lösung senkt die Produktionskosten und aufgrund der unkompliziertes Handhabung kann man erweiterte Tests ausführen, um die Qualität der Ergebnisse und letztendlich die der Endprodukte zu erhöhen.“

Das intelligente neue 2-in-1-System macht den Probentransfer, die Zeit für die Probenvorbereitung und die Rüstzeiten für die Elektronenmikroskopie überflüssig. Alle relevanten Informationen, um bei der Inspektion die richtigen Entscheidungen zu treffen, sind in Sekundenschnelle verfügbar. Mit der Lösung können sich die Anwender auf die Materialstruktur konzentrieren und die LIBS-Analyse mit einem einzigen Klick auslösen. Die Probe verbleibt dabei in Raumluft-Umgebung. Das resultierende Spektrum zeigt den Fingerabdruck der im untersuchten Bereich vorhandenen Elemente. Die jeweilige chemische Zusammensetzung wird präzise im Ergebnis ausgewiesen.

Die Materialprüfung ist wichtig für die Qualitätskontrolle, die Fehleranalyse und die Forschung und Entwicklung in verschiedenen Industrien und Bereichen wie Metalllegierungen, Automobil, Elektronik und Materialwissenschaften.

www.leica-microsystems.com/de/

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