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Anwendung leistungsfähiger Test- und Validierungsmethoden

Controller von Göpel als PXIe-Variante für JTAG/Boundary Scan
Anwendung leistungsfähiger Test- und Validierungsmethoden

Anwendung leistungsfähiger Test- und Validierungsmethoden
SFX II PXIe C4/FXT Bild: Göpel electronic

Die Scanflex II Controller für JTAG/Boundary Scan Anwendungen sind die leistungsstärkste Hardware-Plattform von Göpel electronic. Mit der neuen Plug-In PXIe-Variante wird die bereits aus USB- und Rack-Unit-Controllern bestehende Familie nun komplettiert. Boundary Scan Controller dienen als Schnittstelle zwischen Prüf-PC/Software und der Ziel-Baugruppe in der Fertigung oder im Entwicklungsbereich. Gestützt auf modernste FPGA ermöglichen die Scanflex II Controller die Anwendung leistungsfähiger Test- und Validierungsmethoden. Sie nutzen in den zu prüfenden Elektronik-Baugruppen mit reduziertem physischem Zugriff eingebettete Instrumente, um diese zu testen und zu programmieren. In diesem Kontext bietet die SFX II PXIe C4/FXT eine einheitliche Steuerplattform mit 4 unabhängigen, echt parallelen Test Access Ports (TAP) für bis zu 100 MHz. Dadurch gelingt die synchronisierten Ausführungen von Embedded Test-, Debug- und Programmier-Operationen via Boundary Scan (IEEE1149.x), Prozessor Emulation, Chip Integrated Instruments oder dem Embedded Diagnostics Verfahren. Grundlegende Elemente sind dabei unter anderem eine programmierbare, multifunktionale 32 Kanal I/O Mixed-Signal Einheit mit Signalfrequenzen bis zu 100 MHz, programmierbare TAP-Protokolle für eine Vielzahl von Prozessor Debug Interfaces. Angesteuert wird die SFX II PXIe C4/FXT über ein PXI Express x2 Interface. Durch ihre multifunktionale Architektur bietet die SFX II PXIe C4/FXT fast unbegrenzte Möglichkeiten alle Technologien, incl. Mixed Signal Tests, flexibel und mit höchster Performance auf nur einer Plattform zu kombinieren. Dieser Lösungsansatz bietet nicht nur den Vorteil einer deutlich verbesserten Testtiefe für komplexe Boards auch ohne Einsatz von Nadeln, sondern er minimiert auch die Zahl notwendiger Instrumente. So kann beispielsweise durch eingebettete Funktionstests die Erkennung und Diagnose dynamischer Fehler realisiert werden, während die Features zur In-System-Programmierung (ISP) für Flash Komponenten, Mikro-Controller und PLD/FPGA andere Standalone-Programmer überflüssig machen. Durch eine Vielzahl spezieller Erweiterungs- und Konfigurationsfeatures ist die SFX II PXIe C4/FXT darüber hinaus auch bereits für zukünftige Embedded Technologien zum Testen, Validieren, Debuggen und Programmieren gerüstet. Unter Nutzung der PXI Express Plattform lassen sich somit externe Funktionstests einfach mit Embedded Prozeduren kombinieren. Das System ist sowohl für die Entwicklung, als auch für die Produktion geeignet. Dadurch reicht sein Einsatzbereich von der Prototypen-Designverifikation über das Hardware Debugging, die Programmierung von Flash bis hin zum Gang Test von High Volume Stückzahlen und der Diagnose defekter Baugruppen aus dem Feld zur Gewinnung der notwendigen Reparaturinformationen.

www.goepel.com


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