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Aufnahmen im kurzwelligen Infrarot

Objektive für hochauflösende Inspektion
Aufnahmen im kurzwelligen Infrarot

Aufnahmen im kurzwelligen Infrarot
Das vielseitige Mikroskopsystem Optem Fusion erlaubt jetzt hochauflösende Aufnahmen im kurzwelligen Infrarot. Foto: Qioptiq

Qioptiq präsentiert neue Objektive für die Mikro-Inspektion im kurzwelligen Infrarot (SWIR) mit dafür optimierten Bildsensoren. Dies eröffnet neue Anwendungsmöglichkeiten in Machine-Vision-Lösungen für die Halbleiterindustrie und andere Anwendungen. OEMs können modulare Optem-Fusion-Mikroskopsysteme mit den SWIR-Objektiven sehr flexibel konfigurieren. Das Optikdesign der SWIR-Objektive wurde von Grund auf überarbeitet und an den Wellenlängenbereich von 900 nm bis 1.700 nm angepasst, um die gewohnt hohe Abbildungsqualität der Mikroskop-Baureihe zu erreichen. Spezialbeschichtungen gewährleisten zudem hohe Transmission im kompletten Spektralbereich.

Um die große Variabilität auch im SWIR-Spektrum umzusetzen, hat Qioptiq zahlreiche Optikkomponenten für den Einsatz mit den neuen Objektiven optimiert. So sind ab Anfang 2019 auch ein siebenfaches Zoom, Komponenten für feste Vergrößerungen, Objektive und Tubuslinsen mit verschiedenen Vergrößerungen sowie Strahlteiler für koaxiale Beleuchtung erhältlich. Zahlreiche mechanische Komponenten des bekannten Sortiments stehen selbstverständlich auch für die SWIR-Variante zur Verfügung. Zoom und Fokus können motorisiert werden, um vollautomatische Inspektionslösungen zu ermöglichen. Durch die verschiedenen Tubuslinsen unterstützt das System alle derzeit auf dem Markt erhältlichen SWIR-Kameras. Außerdem werden eine Vielzahl an Kameraadaptern, auch für exotische Kameramodelle geboten. Mit der Ergänzung stehen in der Produktplattform flexibel konfigurierbare Lösungen für Aufnahmen im Bereich von 400 nm bis 1.700 nm mit verschiedensten Bildsensoren zur Verfügung.

www.excelitas.com; www.qioptiq.de

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