Automatisierung von EMV IC-Tests

Der IC-Testautomat ICT1 von Langer EMV-Technik ist ein Positioniersystem für Messsysteme, um automatisierte EMV-Tests an ICs durchzuführen. Mit dem ICT1 können Störfestigkeits- und Störaussendungsuntersuchungen einzelner IC Pins und kompletter ICs automatisiert durchgeführt werden. Besonderheiten des ICT1 sind die automatische Pinerkennung und die hochgenaue Positionierung (10 µm) der Messsysteme am Test-IC. Durch die automatischen Messungen werden Zeit und Kosten gespart. Der Automat ist so aufgebaut, dass man mit den Messspitzen der einzelnen Probes die IC-Pins direkt kontaktieren kann. Angeschlossen werden die Probes an die benötigten Mess- und Steuergeräte (Spektrumanalysator, Oszilloskop, HF Leistungsverstärker etc.). Die Steuerung der Geräte erfolgt über eine Schnittstelle zum PC. Der Test-IC wird in Funktion getestet. Dafür befindet sich der Test-IC auf einer Testleiterkarte. Diese ist mit dem Connection Board verbunden. Das Connection Board ist die Schnittstelle zwischen Test IC und PC. Es stellt die notwendigen Versorgungssignale für den Test-IC bereit und leitet die zu überwachenden Signale an die entsprechenden Messeinrichtungen weiter. Connection Board und Test-IC befinden sich in der Groundplane. Somit ist eine optimale Messumgebung geschaffen. Die für die jeweilige Messaufgabe notwendige Probe wird an den ICT1 angeschlossen. Durch eine speziell konstruierte Halterung sind die Probes schnell und ohne zusätzliches Werkzeug wechselbar.

Für leitungsgebundene Störaussendungsmessungen, zum Beispiel die 1 Ohm / 150 Ohm Methode (IEC EN 61967–4), können die zu testenden Pins in der Steuersoftware ausgewählt werden. Der Automat misst automatisch die Störaussendung der angegebenen Pins und erstellt ein Messprotokoll. Für leitungsgebundene Störfestigkeitsuntersuchungen, z.B. Messung zur Störfestigkeit gegen Impulse nach IEC 62215–3, werden die ausgewählten Pins angefahren und bis zum festgelegten Störschärfegrad bzw. Fehlerfall automatisch getestet und ein Messprotokoll erstellt. Für feldgebundene Störaussendungsmessungen können Nahfeldsonden (z. B. ICR –Mikrosonden) verwendet werden. Neben den Messungen an einzelnen IC-Pins sind damit auch Flächen- oder Volumenscans über dem gesamten Test-IC möglich. Feldgebundene Störfestigkeitsmessungen können mit verschiedensten Feldquellen durchgeführt werden. Durch die hohe mechanische Auflösung lassen sich gezielt einzelne Bereiche im Test-IC mit Störungen beaufschlagen. Der ICT1 ist ein Tischgerät mit einer Stellfläche von 40 cm x 40 cm. Der gesamte Prüfaufbau passt auf den Arbeitsplatz eines Entwicklers.