Advantest Corporation, Anbieter von Halbleiter-Testlösungen, stellte die neue EVA100 Digital Solution auf der productronica in München vor. Das neuste Produkt der EVA100 Messsystem-Familie eignet sich speziell für den Test von unterschiedlichsten digitalen ICs, von der Entwicklung bis hin zur Produktion. Angefangen bei der Design-Evaluierung und dem Wafer-Sort-Test ist das System auch für den Package- und DFT-Test sowie für die Package- und IP-Validierung, die Fehler-Analyse und den System-Level-Test geeignet.
Das System bietet eine einzigartige Lösung kostensensitive Halbleiter in Produktionsumgebungen mit hohem Produktmix und kleinen Stückzahlen bei Einhaltung höchster Qualitätsstandards effektiv zu testen. Die Funktionen der digitalen Testlösung umfassen sowohl die Pattern-Generierung und den Pattern-Vergleich für die Evaluierung von Bauteil-Designs, die digitale Steuerung als auch Messungen an Stromversorgungen und analoge 18-Bit-Messungen. Das System führt alle diese Tests mit Datenübertragungsraten von 100 Mbps und Taktraten bis zu 200 MHz durch. Die Testprogrammerstellung erfolgt mittels der einfach zu handhabenden intuitiven Bedienoberfläche GUI. Das System ermöglicht dem Anwender die Nutzung einer einzigen Messumgebung, von der Design-Evaluierung bis hin zur Produktion. Diese Effizienz-steigernde Standardisierung ist derzeit mit keinem anderen am Markt erhältlichen Messinstrument erreichbar.
Das kompakte System (B 220 mm x H 206 mm x T 472 mm) lässt sich mit bis zu 256 digitalen I/O und 16 Stromversorgungen ausstatten. Dabei können bis zu vier digitale Testeinheiten zusammengeschaltet werden, um Konfigurationen von bis zu 1.024 Digitalkanälen zu realisieren. Die Lösung ist speziell auf heutige und künftige Marktanforderungen beim Test von MCUs, IoT-, Flash-, DFT/BIST-angetriebenen, kleinen FPGA/ASICs, Fingerprint ICs und digitalen Sensor IC Bauteilen ausgelegt.
