Tagarno hat eine neue App für die digitalen Mikroskope des Unternehmens entwickelt, die es möglich macht, ein Bild auf einem perfekten Muster direkt neben einem Echtzeit-Schirmbild einer Leiterplatte oder einem erfassten Probenbild angezeigt zu bekommen und beide zu vergleichen.
Die App ermöglicht eine erstklassige Qualitätskontrolle an Leiterplatten nach einer Komponentenbestückung oder Reflowprozess. Indem Leiterplattenproben auf unterschiedliche Weisen mit einem Referenzbild eines perfekten Musters verglichen werden, kann der Bediener mit Hilfe dieser Anwendung eine hohe Produktionsqualität gewährleisten und Fehler und falsch eingesetzte Komponenten effizient zu erkennen.
Eine Maus und eine Tastatur, die direkt mit dem Mikroskop verbunden sind, reichen aus, um eine Reihe auf dem Bildschirm angezeigten Eigenschaften zu steuern.
Es ist äußerst wichtig, Produkt- oder Produktionsabweichungen und -fehler rechtzeitig zu erkennen. Indem das Referenz- und das Probenbild nebeneinander angezeigt werden, können jegliche Fehler in der Probe leicht erkannt werden, um rasch die erforderlichen Änderungen vorzunehmen.
Dank der Schwenk- und Zoomfunktion für Referenz- und Probenbild kann die Probe im Detail betrachtet oder eine vollständige Übersicht der Ergebnisse eingeholt werden.
Das Wechseln zwischen Referenzbild- und Probenbildansicht auf dem Bildschirm in 1-Sekunden-Intervallen ermöglicht einen raschen Vergleich der beiden Platten, um Unstimmigkeiten und Abweichungen auf der Probe rasch feststellen zu können.