Advantest Corporation, Anbieter von Halbleiter-Testlösungen, ermöglicht durch Optimierungen der MPT3000 Serie eine höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs (Sold-State-Drive). Durch die Erweiterungen kann die Produktlinie mehr Test-Insertions in der Entwicklung, der Produktion kleiner Stückzahlen und in BIST-Anwendungen (Built-in Self-Test) abdecken. Dies ist mit der selben MPT3000 Architektur und derselben Software möglich. Die modulare Tester-per-DUT-Architektur (Device under Test) und einzigartige Hardware-Beschleunigung des Systems unterstützt nun alle Protokolle und Formfaktoren von SSDs.
Auf dem schnell wachsenden Speichermarkt führt die hohe Nachfrage nach SSDs zu einer zunehmenden Vielfalt an Formfaktoren und einer Verlagerung von SATA zu den leistungsfähigeren Protokollen PCIe und SAS. Durch die Modularität und Flexibilität des MPT3000HVM Systems lassen sich mit einer Lösung unterschiedlichste SSD-Produktkonfigurationen abdecken. Das neue MPT3000HES System nutzt dieselbe Hardware, Software, Temperatursteuerung und dieselben Schnittstellen in einer kleineren Konfiguration mit exakt gleicher Unterstützung für den Einsatz in der Entwicklung und bei Anwendungen mit kleinen Stückzahlen.
Neben Erweiterungen im Bereich Protokoll-Test stellt das automationsbereite MPT3000HVM eine neue und kostengünstige Smart Power BIST Lösung wie die Protokoll-Testlösung zur Verfügung. Dies wird mit derselben Bauform, Software und Temperatursteuerung ermöglicht. Diese Option wurde speziell für Produktionstests entwickelt, die nur eine langsame serielle Schnittstelle aber eine maximale Synergie für Protokoll-Tests erfordern.
