Wenn es um die Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit feinster Strukturen geht, sind Weißlicht-Interferometer in ihrem Element. Ihre Vorteile lassen sich heute auch bei 3D-Messungen der Oberflächenrauheit direkt in der laufenden Fertigung nutzen, z. B. für die Qualitätskontrolle oder Prozessüberwachung. Polytec hat die bewährte TopMap-Familie jetzt um ein spezielles Inline-Messsystem erweitert. TopMap Rapid.View erfüllt hinsichtlich Messzeit und Auflösung höchste Anforderungen: Je nach Aufgabe und Messbereich sind Messzeiten im Sekundenbereich realisierbar. Bei einem Höhenmessbereich von 400 µm ist das mikroskopbasierte System mit seiner hohen lateralen Auflösung ideal zur präzisen Inline-Rauheitsmessung geeignet. Es erkennt feinste Oberflächenstrukturen und hält mit schnellen Fertigungstakten Schritt. Gescannt wird in Echtzeit unter Nutzung komplexer Algorithmen auf Grafikkarten. Verkleinert man das Bildfeld, kann die Bildwiederholungsfrequenz bis auf 3 kHz beschleunigt werden.
Gut integrierbar und einfach zu bedienen
Da das Inline-Messsystem sehr kompakt baut, lässt es sich gut in die Fertigungslinie integrieren. Der kompakte Messkopf kann zudem wie ein Sensor separat montiert und damit flexibel positioniert werden. Dank vieler Exportmöglichkeiten können die 3D-Messdaten mit jeder geeigneten Auswertesoftware bearbeitet werden. Besonders einfach und praxisgerecht wird der Umgang mit der speziell für diese Topografie-Messsysteme entwickelten TMS Software, die zahlreiche Möglichkeiten bietet, um die Messergebnisse zügig und ISO-konform auszuwerten. „Messrezepte“ erleichtern Routineaufgaben. Somit werden aus komplexen Oberflächenanalysen einfache Ein-Klick-Lösungen. Das spart im Produktionsumfeld Zeit, vermeidet Bedienfehler und auch Nicht-Fachleute können mit den Messsystemen arbeiten. Weiterführende Informationen hier.
