Keysight Technologies hat das neue Silizium-Photonik-Testsystem NX5402A angekündigt, das die Softwaretechnologie Keysight Pathwave Semiconductor Test (Teil der Keysight Pathwave Test Software) integriert. Damit können Halbleiterhersteller die Produktion von Silizium-Photonik-Wafern mit stabilen und reproduzierbaren Testfunktionen beschleunigen.
Das neue Testsystem bietet die folgenden Vorteile für den Anwender:
– Alles aus einer Hand: Bietet Messtechnologien und direkte Support-Möglichkeiten, einschließlich integrierter optischer und elektrischer Testmöglichkeiten und eines Faserausrichtungs- und Positionierungssystems, das auf der Messtechnik von Keysight basiert.
– Vollständig automatisiert: Mit der Pathwave Semiconductor Test Software, die mit der Specs-Software des Herstellers kompatibel ist, werden manuelle Vorgänge eliminiert, was Tests der Silizium-Photonik in einem Durchgang ermöglicht.
– Bereit für die Serienproduktion: Software für die Fabrikautomatisierung, Sicherheitsverriegelung und Reinraumtauglichkeit unterstützen den Einsatz in der Fertigung und bieten einen hohen Testdurchsatz auf Grundlage einer mehrkanaligen optischen und elektrischen Testarchitektur sowie eine optimierte Faserausrichtung.
– Bewährte Systemleistung: Hohe Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Reproduzierbarkeit vom Labor bis zur Fertigung, photonische Kalibrierung auf Waferebene sowie zuverlässige Leistungsüberwachung mit integrierter automatischer Systemdiagnose. (ks)
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