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Keysight stellt massiv-paralleles Leiterplatten-Testsystem vor

Testsysteme
Keysight: Massiv-paralleles Leiterplatten-Testsystem mit mehr Durchsatz und weniger Stellfläche

Keysight: Massiv-paralleles Leiterplatten-Testsystem mit mehr Durchsatz und weniger Stellfläche
Das i7090 verspricht mit bis zu 20 Kernen parallel einen höheren Durchsatz bei geringerer Stellfläche. Bild: Keysight Technologies Deutschland GmbH

Keysight Technologies hat das i7090 vorgestellt. Dabei handelt es sich um eine neue Kategorie von automatisierten Testgeräten, die für die parallele Durchführung von Tests an mehreren Leiterplattenbaugruppen (PCBA) entwickelt wurden. Das massiv-parallele Leiterplatten-Testsystem unterstützt bis zu 20 Kerne parallel mit PXI-basierten (PCI eXtensions for Instrumentation) In-Circuit-Testmöglichkeiten. Dadurch ist die Kernkonfiguration variabel und nicht auf eine feste Anzahl von Reihen beschränkt, was die gesamten Computerkosten reduziert. Unpowered und Vectorless Test Extended Performance (VTEP) sollen laut Hersteller für schnellen Testdurchsatz, reduzierte Kostenvorrichtungen und hohe Fehlerabdeckung sorgen. Um die Funktionalität zu erweitern, ermöglicht die Unterstützung von Keysight OpenTAP offene Plattformen für die Integration von Hardware. Je nach Bedarf und mit erweiterbaren Messgeräten und Steckkarten können Anwender die Betriebsmittel einfach skalieren. Die Integration von Programmierfunktionen ermöglicht eine In-System-Programmierung mit 160 Kanälen parallel. Die Systemstandfläche misst 600 mm in der Breite. Unterstützung für Multiplattform-Hardware in einem Standard-48-cm-Rack ermöglicht zudem die funktionale Integration.

Keysight Technologies Deutschland GmbH
Herrenberger Straße 130
71034 Böblingen
Tel.: +49 7031 464 6333
E-Mail: contactcenter_germany@keysight.com
Website: www.keysight.com

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