Startseite » Technik » Produktneuheiten »

Konfokales 3D-Laserscanning-Mikroskop

Unterschiede sichtbar machen
Konfokales 3D-Laserscanning-Mikroskop

Konfokales 3D-Laserscanning-Mikroskop
Das konfokale 3D-Laserscanning- Mikroskop VK-X mit präziser und hochauflösender Oberflächenanalyse. Foto: Keyence

Keyence präsentiert das konfokale 3D-Laserscanning- Mikroskop VK-X mit präziser und hochauflösender Oberflächenanalyse und macht dadurch Unterschiede sichtbar. Die VK-X-Serie vereint Funktionen der berührungslosen Rauheitsmesstechnik und Topographieerfassung. Die hochauflösenden Bilder des Lasers in Kombination mit den Echtfarben der Farbkamera ermöglichen aussagefähige Analysen und Ursachenbeschreibungen. Die neue AI-Scan-Funktion vereinfacht die Arbeit des Anwenders um ein Vielfaches, da dieser mit nur einem Klick Analysen starten und zusammenfassen kann.

Die VK-X-Serie wurde entwickelt, um Unzulänglichkeiten in Bildgebung und Profilmessung zu revolutionieren, indem eine hochauflösende Farbbildgebung sowie Profilmessungen im Nanometerbereich realisiert wurden. Der kurzwellige Laser scannt berührungslos Oberflächen und Schichtdicken, auch an steilen Flanken. Durch die Verwendung eines Photomultipliers als Laser-Empfangselement mit hochempfindlicher 16-Bit-Erfassung kann das VK-X Bilderfassungen und Messungen auf nahezu jeder Art von Material sowie Schichtdickenmessungen auf transparenten Folien und Beschichtungen durchführen.

Um die Bedienung des Mikroskops zu vereinfachen, wurde die AI-Scan-Funktion entwickelt, um den Scanvorgang zu automatisieren. Damit ist es Benutzern möglich, auf einen einzigen Knopfdruck die Empfindlichkeit des Photomultipliers automatisch anzupassen. Dies erfolgt, indem die oberen und die unteren Grenzen des Scan-Bereichs automatisch ermittelt und gescannt werden. Dabei werden alle notwendigen Informationen des Objekts erfasst und festgelegt. Durch Verwendung dieser Funktionen können auch unerfahrene Anwender genaue Messdaten und hochauflösende Bilder schnell, einfach und wiederholgenau erhalten. Eine weitere Besonderheit stellt die WIDE-Scan-Funktion dar. Diese wurde in ihrer Geschwindigkeit nochmals gesteigert und ermöglicht es, große Bildfelder schnell und präzise zu messen. Mit der Navigationsfunktion des optischen Bildes werden mehrere Bildfelder zu einem großen Panorama zusammengesetzt. In das Panoramabild kann danach hineingezoomt werden (kein digitaler Zoom), wodurch sowohl eine Übersichtsaufnahme als auch hochauflösende Details in einer einzigen Datei festgehalten werden.

www.keyence.de

Unsere Webinar-Empfehlung
INLINE – Der Podcast für Elektronikfertigung

Doris Jetter, Redaktion EPP und Sophie Siegmund Redaktion EPP Europe sprechen einmal monatlich mit namhaften Persönlichkeiten der Elektronikfertigung über aktuelle und spannende Themen, die die Branche umtreiben.

Hören Sie hier die aktuelle Episode:

Aktuelle Ausgabe
Titelbild EPP Elektronik Produktion und Prüftechnik 2
Ausgabe
2.2024
LESEN
ABO
Newsletter

Jetzt unseren Newsletter abonnieren

Webinare & Webcasts

Technisches Wissen aus erster Hand

Whitepaper

Hier finden Sie aktuelle Whitepaper

Videos

Hier finden Sie alle aktuellen Videos


Industrie.de Infoservice
Vielen Dank für Ihre Bestellung!
Sie erhalten in Kürze eine Bestätigung per E-Mail.
Von Ihnen ausgesucht:
Weitere Informationen gewünscht?
Einfach neue Dokumente auswählen
und zuletzt Adresse eingeben.
Wie funktioniert der Industrie.de Infoservice?
Zur Hilfeseite »
Ihre Adresse:














Die Konradin Verlag Robert Kohlhammer GmbH erhebt, verarbeitet und nutzt die Daten, die der Nutzer bei der Registrierung zum Industrie.de Infoservice freiwillig zur Verfügung stellt, zum Zwecke der Erfüllung dieses Nutzungsverhältnisses. Der Nutzer erhält damit Zugang zu den Dokumenten des Industrie.de Infoservice.
AGB
datenschutz-online@konradin.de