Modul für hochauflösende und Hochgeschwindigkeits-ICs

Erweitertes Messsystem

Modul für hochauflösende und Hochgeschwindigkeits-ICs

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Advantest Corporation, Anbieter von Halbleiter-Testlösungen, erweitert mit dem neuen HF-AWGD Modul (High-Frequency Arbitrary Waveform Generator and Digitizer) die Fähigkeiten seiner EVA100 Messplattform zum Test von sehr schnellen und hochauflösenden Analog-Bauteilen. Mit dem neuen Modul kann das EVA100 System alle wichtigen Parameter von Mixed-Signal-, Präzisions- und standardmäßigen Analog-Halbleitern messen, die in wachstumsstarken Anwendungen, wie beispielsweise On-Board-Automobilelektronik, zum Einsatz kommen.
Das HF-AWGD Modul enthält einen zweikanaligen High-Speed-Arbiträr-Signalgenerator und einen Digitizer. Es ist somit ein leistungsstarkes Analyse-Tool für Präzisionsbauteile, wie 16-Bit-ADCs und Operationsverstärker. Das Modul nutzt eine intuitive Software und ein High-Speed-Sampling. Damit werden Signale im AWG-Modus (auf der Basis eines Wave Pattern File) oder im Pattern-Generator-Modus (ohne ein Wave Pattern File) erzeugt. Der extrem niedrige Klirrfaktor des AWG-Systems von –102 dB gewährleistet höchste Präzision. Außerdem kann der große Signalspeicher lange Signale erfassen, während der eingebaute Digitizer einen großen Eingangsbereich mit hoher Analog-Bandbreite abdeckt. Das Modul ist somit ideal für Präzisions- und High-Speed-Wandler sowie drahtlose Basisband-Bauteile geeignet.
Das Advantest EVA100 System nutzt dieselben Testsequenzen für Messungen in der Entwicklung und in der Produktion, so dass der Anwender eine standardisierte Messumgebung im gesamten Unternehmen zur Verfügung hat. Das ermöglicht eine deutlich kürzere Time-to-Market. Die Halbleiter-Hersteller müssen somit keine Zeit und Ressourcen aufwenden, um Testdaten von verschiedenen Systemen zu korrelieren. Das EVA100 verfügt über eine intuitive Bedienoberfläche (GUI), so dass keine komplizierte Programmiersprache erforderlich ist. Das HF-AWGD Modul ist bereits bei mehreren Kunden im Einsatz, um Lichtsensoren, Datenwandler und andere Bauteile zu messen.
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