Advantest Corporation, Anbieter von Halbleiter-Testgeräten, hat seine V93000 Tester der nächsten Generation zum Test fortschrittlicher Digital-ICs bis zur Exascale-Leistungsklasse angekündigt. Die Testsysteme sind mit der Xtreme Link Technologie und den EXA Scale Digital- und DPS (Device Power Supply) Karten ausgestattet, die neue Testmethoden unterstützen sowie niedrigere Testkosten und eine schnelle Markteinführung gewährleisten.
Die heute fortschrittlichsten Halbleiterprozesse ermöglichen neue Technologien, die eine Echtzeit-Integration von Daten aus unzähligen Quellen wie IoT, Smartphones, Automobilen, großen Servern u.a. erfordern. Mit der Entwicklung von Mobilprozessoren, High Performance Computing (HPC) und ICs für künstliche Intelligenz (KI) wächst die Menge der verarbeiteten Daten weiterhin exponentiell an. Damit müssen auch neue Herausforderungen im Testbereich bewältigt werden, wie sehr große Scan-Datenmengen und extreme Anforderungen an die Spannungsversorgungskarten des Testsystems. Kunden fordern aussagekräftige Testergebnisse, die ihnen helfen die Ausbeute und Qualität bei neuen Designs schnell zu steigern, und die Möglichkeit großer Paralleltest-Konfigurationen zur Kostenreduktion.
Die V93000 EXA Scale Generation begegnet diesen Herausforderungen mit innovativer Weiterentwicklung der bewährten V93000 Architektur. Alle EXA Scale Karten sind mit der neuesten Generation der Testprozessoren mit 8 Kernen pro Chip des Unternehmens ausgestattet. Sie bieten fortschrittliche Möglichkeiten zur Beschleunigung und Vereinfachung der Testdurchführung. Darüber hinaus verwendet das System die patentierte Xtreme Link-Technologie des Unternehmens, ein Kommunikationsnetzwerk, das speziell für automatische Testgeräte (ATE) entwickelt wurde. Diese Technologie bietet Hochgeschwindigkeits-Datenverbindungen, Embedded Computing Power und eine schnelle, direkte Kommunikation von Karte zu Karte.
Die digitale Pin Scale 5000 Karte wurde entwickelt, um der enormen Zunahme der Scandatenmengen gerecht zu werden, die bei großen digitalen IC Designs benötigt werden. Die Lösung setzt mit einer Geschwindigkeit von 5 Gbit/s einen neuen Standard für Scan-Tests. Sie bietet den größten auf dem Markt verfügbaren Speicher und nutzt die Xtreme Link-Technologie für die schnelle Verarbeitung der Ergebnisse. Diese vielseitige Technologie ermöglicht den Kunden, die effizienteste Scan-Methodik für ihr Bauteil zu wählen.
Sehr hohe Stromanforderungen, bis zu mehreren 1000A bei Versorgungsspannungen unter 1V, machen die Spannungsversorgungskarten von ATE zu einem differenzierenden Faktor. Die XPS256 Karte ist eine weitere Innovation, die alle Leistungsanforderungen mit einer einzigen DPS-Karte abdeckt: bis zu 256 einzelne Spannungsversorgungen, aber auch unbegrenztes und flexibles Zusammenschalten der Kanäle für große Ströme – bei außergewöhnlicher statischer und dynamischer Genauigkeit. Mit 256 Kanälen auf der Pin Scale 5000 Digitalkarte und der XPS256 Karte wird die Dichte verdoppelt, während das branchenführende kompakte Format des Testers beibehalten wird. Konfigurationen für Paralleltest können in kleineren Systemen implementiert werden, wodurch die Infrastrukturkosten und der Platzbedarf reduziert werden.
Skalierbare Lösungen werden mit Testsystemen unterschiedlicher Größe angeboten, einschließlich der Möglichkeit, verschiedene Bauteilefunktionen, wie z.B. digital, RF, analog und Power auf einem System zu testen.
Mit der V93000 EXA Scale Generation stellt das Unternehmen weiterhin die Plattformkompatibilität sicher. Bestehende V93000 Load Boards und Smart Scale Karten sind kompatibel. Dies vereinfacht den reibungslosen Übergang zur V93000 EXA Scale Generation. Durch den Einsatz der bewährten SmarTest-Software profitieren die Kunden von der installierten Software-Infrastruktur und können vorhandene Entwicklungstools weiter nutzen. Weitere Informationen über die V93000 EXA Scale sind hier zu finden.
