Advantest Corporation, Anbieter von Halbleiter-Testgeräten, hat die neueste Generation seiner Wave Scale RF-Kanalkarten für die V93000-Plattform vorgestellt. Dadurch wird der wachsenden Marktnachfrage nach Wi-Fi 6E, 5G-NR-Transceivern, LTE-Advanced Pro und IoT-Kommunikationsbauteilen, die bei Frequenzen bis zu 8 GHz arbeiten, Rechnung getragen. Die neue V93000 Wave Scale RF8-Karte, die sowohl hochparallele Multi-Site- als auch In-Site-Paralleltests durchführen kann, reduziert die Test-Kosten und die Markteinführungszeit für zukunftsweisende Hochfrequenz-Halbleiter (RF). Gleichzeitig ermöglicht die Karte den Test zukünftiger 5G-NR-Bausteine.
Die hohe Multi-Site-Fähigkeit des Instruments wird durch sein breites Arbeitsfrequenzspektrum von bis zu 8 GHz, bei einer Modulationsbandbreite von 200 MHz ermöglicht. Die Plattform kann mit bis zu sechs Wave Scale RF8-Karten konfiguriert werden. Jedes der Module verfügt über 32 bidirektionale RF-Ports, mit der Möglichkeit das Testsystem auf bis zu 192 RF-Ports zu skalieren.
Mit einer auf hohen Durchsatz optimierten Architektur verfügt die neue Karte über vier vollständige RF-Subsysteme. Jedes Subsystem beinhaltet eine unabhängige modulierte Quelle, einen Mischer/Digitizer, eine S-Parameter Einheit, einen optionalen Lokaloszillator mit geringem Phasenrauschen sowie einen Testprozessor, der mehrere RF-Messungen in kürzester Zeit durchführen kann. Die Wave Scale RF8-Karte verfügt über ein ultraschnelles Einschwingverhalten, die Frequenz- und Pegeländerungen in weniger als 600 Mikrosekunden und Pegeländerungen allein in weniger als 80 Mikrosekunden ermöglicht. Darüber hinaus unterstützen die Wave Scale RF8-Karten sowohl die V93000 Wave Scale RF18– als auch die Wave Scale Millimeter Testlösung.
