Um eine große Zahl elektronischer Baugruppen in der Produktion zu testen und anschließend zu programmieren ist paralleler Betrieb unabdingbar. Der neue JTAG/Boundary Scan Controller SFX II Blade 8 RMx1/2 bietet bis zu zweimal acht TAPs (Test Access Ports). Dadurch können mehrere unterschiedliche oder gleiche Baugruppen simultan bearbeitet werden, was eine Durchsatzsteigerungen mit sich bringt. Die Lösung ist eine Produktserie einer JTAG/Boundary Scan Controller-Generation im Rahmen der Scanflex II Architektur. Gestützt auf Multi-Core Prozessoren und FPGA bilden diese Controller die Basis zur Unterstützung sogenannter Embedded JTAG Solutions. Dabei handelt es sich um Test- und Validierungsmethoden, welche die Funktionen von FPGAs und Prozessoren nutzen, um komplexe Boards mit stark reduziertem physikalischem Zugriff zu testen und zu programmieren. In diesem Kontext bietet die Scanflex II Blade 8 RMxX eine einheitliche Steuerplattform mit 1 x 8 oder 2 x 8 unabhängigen, echt parallelen Test Access Ports (TAP) für bis zu 100 MHz, sowie 1– bzw. 2-mal eine programmierbare, multifunktionale 64 Kanal I/O Mixed-Signal Einheit. Die Controller sind direkt als 19“ 1HE Einschub konzipiert. Je nach Konfiguration sind parallel ansteuerbare Einfach- und Zweifach-Lösungen erhältlich. Als Steuerinterfaces sind USB3.0 und Gbit LAN standardmäßig integriert, Wireless LAN ist optional verfügbar.
Durch ihre multifunktionale Architektur bietet die Lösung fast unbegrenzte Möglichkeiten, leistungsstarke Test- und Programmiertechnologien mit höchster Performance auf nur einer Plattform zu kombinieren. Mit einer Vielzahl spezieller Erweiterungs- und Konfigurationsfeatures kann die Lösung sowohl für Standard-Level als auch Professional- und Expert-Level EJS-Applikationen gerüstet werden.
