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Verfeinerter Boundary Scan Test spart Zeit und Geld

Höhere Präzision bei niederfrequentem Spannungsverlauf
Verfeinerter Boundary Scan Test spart Zeit und Geld bei Kraus

Benjamin Ruß, Hardware-Entwickler bei Kraus, zeigt Standard-Messgeräte kombiniert mit Boundary Scan.
Benjamin Ruß, Hardware-Entwickler bei Kraus, zeigt Standard-Messgeräte kombiniert mit Boundary Scan. Foto: Kraus
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Die Kraus Hardware GmbH bietet neben der Fertigung komplexer elektronischer Baugruppen auch Serviceleistungen als Testhaus mit umfangreichen Möglichkeiten an. Bei den Testverfahren wird auf die Kombination der unterschiedlichen optischen und elektronischen Testverfahren wie Sichtkontrolle (MOI), Flying Probe Incircuit Test ( ICT) , Boundary Scan Test ( BS), Automatische Optische Inspektion (AOI), Automatische Röntgenanalysen in 2,5 oder auch 3D Computer Tomographie (CT), gesetzt. So ergeben sich zum Beispiel bei einer Kombination von ICT mit Boundary-Scan-Test (BST) eine Zeitersparnis von bis zu 50 Prozent, verbunden mit höherer Prüfabdeckung.

Jedoch hat das Unternehmen noch mehr Möglichkeiten anzubieten, wie beispielsweise Protokollieren und Archivieren der Traceability von Chip-IDs, Hersteller Code oder das Beschreiben von Speicherchips.

So gab es gerade eine Kundenforderung, den Eingangsstrom seiner Schaltung zu messen und zu protokollieren. Wie ganz individuelle Testlösungen im Unternehmen aussehen, wird an dem aktuellen Beispiel aus dem Bereich Boundary Scan deutlich. Durch den ergänzenden Einsatz zusätzlicher bewährter Standard-Messgeräte wird die Prüfabdeckung des Boundary Scan deutlich erweitert und damit präziser. Denn der Boundary Scan ist grundsätzlich ein langsames elektronisches Verfahren zum Testen digitaler und analoger Baugruppen, auf die über ein serielles Schieberegister auf bestimmte Punkte der Schaltung zugegriffen wird. Grundsätzlich ist es möglich, die Geschwindigkeit des Testverfahrens zu erhöhen, zum Beispiel mit speziellen IP-Cores, die auf die internen Strukturen von Prozessoren und FPGAs zugreifen. Das muss unabhängig vom IP-Core immer beim Boundary Scan so sein. Und wie bei jedem Testverfahren stößt der Prüfer an Grenzen, da ein Testverfahren, das alle Fehler findet, noch nicht existiertt. Und hier ortete Benjamin Ruß, Entwickler im Unternehmen, das Problem der Nicht-Testbarkeit wegen dem hohen Spannungsabfall, welcher durch den zu hohen Innenwiderstand am Multimeter entsteht. „Diesen spezifischen Anwendungsfall haben wir im Team diskutiert und eine effiziente Lösung theoretisch entwickelt und professionell umgesetzt“, stellt Benjamin Ruß fest. „Wir haben die beiden bewährten Standardmessgeräte Multimeter und Oszilloskop gemeinsam mit der Strom-Messzange in den Boundary-Scan-Prüfablauf eingebunden.“ Durch diese Koppelung wurde einerseits die Funktion der Baugruppe geprüft, darüber hinaus die tatsächliche Stromaufnahme protokolliert und alle geforderten Parameter ausgelesen. Im Fehlerfall wird bei unzulässig hoher Stromaufnahme die Versorgungsspannung schnell getrennt. Der Vorteil für den Kunden liegt darin, dass vor dem Verbau der Baugruppen getestet wird, mit erheblichem Gewinn an Zeit und Geld.

„Das Beispiel zeigt sehr eindrücklich unsere Arbeitsweise“, erklärt Andreas Kraus. „Wir verfügen einerseits über ein sehr breites Know-how und Erfahrungswissen. Andererseits suchen wir immer nach neuen Lösungen, um Verfahren und Technologien zu erweitern. Letztlich geht es immer darum, dem Kunden eine passgenaue Lösung zu präsentieren.

www.kraus-hw.de

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