Startseite » Technik » Produktneuheiten »

Zero-Footprint Konfiguration

Zuverlässigkeitstest für Automotive-Bauteile
Zero-Footprint Konfiguration

Der Anbieter von Halbleiter-Testgeräten, Advantest Corporation, hat zwei weitere Produkte seiner B6700 Familie von Memory Burn-In Testern der nächsten Generation auf den Markt gebracht. Die Modelle B6700L und B6700S wurden konzipiert, um die Testkosten zu senken und gleichzeitig die Paralleltest-Kapazität für NAND-Flash-Speicher, die im Zuge von Server- und mobilen Datenspeicherlösungen eine hohe Nachfrage verzeichnen, zu erhöhen.

“Durch die Erweiterung unserer B6700 Produktserie bieten wir dem globalen Markt größere Flexibilität, um der erwarteten Verdreifachung der NAND-Speicherkapazität in den nächsten Jahren gerecht zu werden“, so Takeo Miura, Vizepräsident der Memory ATE Business Group bei Advantest. „Die zwei neuen High-Volume Testlösungen werden unseren Kunden helfen, bei einfacher Anbindung an ihre bestehenden Produktionsnetzwerke eine höhere Rendite aus ihren Investitionen zu erzielen.“

Das anfängliche System der Serie – das kürzlich angekündigte B6700D – wurde für hochparallele und kostengünstige Tests von Speicherbauteilen der nächsten Generation konzipiert. Dabei werden Funktionen der NAND-Flash-Speicher während des Burn-In-Prozesses gemessen. Viele Hauptmerkmale des Systems wurden gegenüber dem Vorgängersystem verdoppelt, wie beispielsweise die doppelte Anzahl an Treiber Pin-Ressourcen, die Netzleistung sowie das Doppelkammer-Design.

Der B6700L Tester hat die gleichen Ressourcen wie der B6700D Tester, verfügt aber über einen breiteren Temperaturbereich. Dadurch dass das System temperaturgesteuerte Tests von –40 °C bis 150 °C in Schritten von einem Zehntel Grad durchführen kann, eignet er sich hervorragend für Zuverlässigkeitstests und Tests von Automotive Bauteilen. Der B6700L Tester kann darüber hinaus bis zu 12 B6700D-kompatible Burn-In-Boards (BIB) und Testprogramme gleichzeitig testen.

Das neue Zero-Footprint B6700S System bietet eine kostengünstige Testlösung für NAND-Flash-Speicher mit allen Fähigkeiten seines Schwestersystems. Das System kann innerhalb eines Multi-Wafer-Testsystems, das für einzelne Wafer-Level-Tests eingesetzt wird, integriert werden. Dadurch können Kosten, die aufgrund des Platzbedarfs im Labor oder in der Produktion entstehen, vermieden werden.

Alle Mitglieder der B6700-Produktfamilie verwenden identische Tester-Boards und Betriebssysteme und sind daher durchgängig kompatibel. Die Bad Block Memory- (BBM), Universal Buffer Memory- (UBM) und Data Pattern Memory- (DPM) Funktionen werden unterstützt, um den NAND Bauteiletest zu ermöglichen.

Die ersten Auslieferungen der B6700L und B6700S Tester an Kunden werden planmäßig im ersten Quartal 2019 erfolgen.

www.advantest.de

Unsere Webinar-Empfehlung
INLINE – Der Podcast für Elektronikfertigung

Doris Jetter, Redaktion EPP und Sophie Siegmund Redaktion EPP Europe sprechen einmal monatlich mit namhaften Persönlichkeiten der Elektronikfertigung über aktuelle und spannende Themen, die die Branche umtreiben.

Hören Sie hier die aktuelle Episode:

Aktuelle Ausgabe
Titelbild EPP Elektronik Produktion und Prüftechnik 1
Ausgabe
1.2024
LESEN
ABO
Newsletter

Jetzt unseren Newsletter abonnieren

Webinare & Webcasts

Technisches Wissen aus erster Hand

Whitepaper

Hier finden Sie aktuelle Whitepaper

Videos

Hier finden Sie alle aktuellen Videos


Industrie.de Infoservice
Vielen Dank für Ihre Bestellung!
Sie erhalten in Kürze eine Bestätigung per E-Mail.
Von Ihnen ausgesucht:
Weitere Informationen gewünscht?
Einfach neue Dokumente auswählen
und zuletzt Adresse eingeben.
Wie funktioniert der Industrie.de Infoservice?
Zur Hilfeseite »
Ihre Adresse:














Die Konradin Verlag Robert Kohlhammer GmbH erhebt, verarbeitet und nutzt die Daten, die der Nutzer bei der Registrierung zum Industrie.de Infoservice freiwillig zur Verfügung stellt, zum Zwecke der Erfüllung dieses Nutzungsverhältnisses. Der Nutzer erhält damit Zugang zu den Dokumenten des Industrie.de Infoservice.
AGB
datenschutz-online@konradin.de