Eine von McKinsey & Company durchgeführte Studie betont, dass wegen steigender Stückzahlen und dem hohen Innovationsanteil von 90 Prozent durch Elektronik und Software OEM-Hersteller zunehmend Partnerschaften mit ihren strategischen Lieferanten eingehen werden. Ziel ist die Senkung von F&E-Kosten sowie eine Verkürzung der Entwicklungs- und Realisierungszeiten neuer Produkte und Verfahren.
Qualität der realisierten Lösungen
Um diese Ziele zu erreichen, müssen die Hersteller der Automotive-Baugruppen auf die besten, am Markt verfügbaren, Lösungen zurückgreifen: vom besten Halbleiterhersteller bis zur besten Produktionsstrategie. Die Entscheidungen hinsichtlich der Tests sind ein wichtiger Teil dieser Überlegungen.
Für die Akteure der Industrie und damit für die Entscheider in Fragen des internen Tests ist es wichtig, die geeignetsten und qualifiziertesten Partner zu ermitteln, die die gewählten Lösungen implementieren werden, um mit der schnelllebigen Welt der Verbraucher Schritt halten zu können. Das gilt insbesondere für automatisiertes Testequipment.
Die Seica Compact Line wurde für die Anforderungen der „schlanken Fertigung“ ausgelegt. Den Schwerpunkt bilden hierbei die Randbedingungen in der Produktion von Leiterplatten-Baugruppen.
Diese Compact ICT-Tester Familie entspricht der neuen World Class Manufacturing (WCM) Standard. Dieser wurde in Zusammenarbeit der besten Experten der Automotive Industrie in Europa und Japan entwickelt.
Die Vorzüge dieses neuen Standards sind um nur einige zu nennen:
- Footprint Reduktion, speziell vorbereitet für den In-Line Betrieb
- Verbesserte Ergonometrie und Sicherheit mit leichterer
Be /Entladung der BG - Reduzierter Aufwand bei der Wartung durch leichten Zugriff nur von vorne und von hinten.
- Durchsatz optimiert durch echten Paralleltest oder Dual Job Fähigkeit
Ergonomisch ausgeklügelt und technologisch auf dem neuesten Stand bietet die Systeme höchste Flexibilität, hohe Messgenauigkeit und -geschwindigkeit bei gleichzeitig niedrigen Verbrauchswerten auf kleinster Stellfläche: ein hochmodernes und zukunftsfähiges Produkt.
Die kompakten Systeme sind eine optimale Lösung für:
- Analogen und digitalen In-Circuit-Test
- Analog-, Digital- und Leistungs-Funktionstest
- Boundary-Scan-Tests
- Onboard-Bauteilprogrammierung (Mikrokontroller, Speicher, usw.)
- Hochspannungs-Test
Compact Line ist das Ergebnis intensiver Forschungsarbeit zur Minimierung der Testkosten. Schwerpunkte bildeten dabei die Reduzierung des Platzbedarfs (Stellfläche und Gesamtabmessungen) und der Testzeiten sowie die Abfallvermeidung. Dabei wurde streng auf die Kompatibilität mit den Testprogrammen und Testadaptern der Strategy Line geachtet.
Alle Systeme der Compact Line basieren auf der Seica VIP Plattform, bestehend aus den Treiber- und Sensor-Kanälen der ACL-Instrumente und der VIVA-Management-Software. Falls erforderlich, lassen sich die Systeme der Compact Line auch durch alternative Softwarepakete wie Labview, LabWindows/CVI und TestStand von National Instruments steuern.
Im Falle von neuen Anforderungen in Bezug auf Leistung und/oder Ergonometrie, kann das Unternehmen kundenspezifische Compact Lösungen für einen Kunden generieren, durch Integrieren von Instrumenten und Third Party Software Paketen oder mit der Entwicklung von dedizierten Hardware und Software Modulen, um den spezifischen Kundenanforderungen zu entsprechen.
