Kombination von In-Circuit- und Boundary Scan-Test - EPP

Boundary Scan

Kombination von In-Circuit- und Boundary Scan-Test

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Zusammen haben Digitaltest und JTAG Technologies das Boundary-Scan Testverfahren von JTAG in die In-Circuit-Testsysteme der MTS-Serie von Digitaltest integriert. Dadurch können die Entwickler und Hersteller von Elektronik eine höhere Testabdeckung und bessere Programmierbarkeit von komplexen elektronischen Baugruppen innerhalb eines einzelnen Prozessschrittes erreichen. Die Sigma Kombinations-Testsysteme von Digitaltest gehören durch umfassende Kurzschluss/Unterbrechungs-, Analog-, Funktions-, serielle Bussystem- und vektorlose Testmöglichkeiten bereits zu den vielseitigsten und fortschrittlichen Baugruppentestern auf dem Markt. Die DSP-basierten analogen Messungen erlauben beispielsweise einen Kurzschlusstest über 1000 Punkte pro Sekunde. Mit Hilfe der integrierten Boundary-Scan Testfunktionen lassen sich die Testmöglichkeiten jetzt noch weiter verbessern. Die Zeiten für die Testentwicklung sowie den Testdurchlauf können minimiert, und die Testabdeckung maximiert werden, während gleichzeitig die Adapterkomplexität aufgrund einer geringeren Anzahl von benötigten Testpunkten reduziert wird. Dies gilt besonders für komplexe digitale Baugruppen, wo der physikalische Zugang zu den elektrischen Schaltungsknoten stark eingeschränkt ist. Die Boundary-Scan-Option ermöglicht einen Zugang sowohl für Testfunktionen, als auch für eine In-System-Programmierung (ISP) mit hohem Durchsatz über den dedizierten IEEE 1149.x Hardware-Controller JT 3727/DPC, der über vier TAPs verfügt und gemeinsam entwickelt wurde. Derzeit bietet die Testlösung eine ISP-Unterstützung für NOR-, NAND- und serielle Flash-Bauteile, plus viele Microcontroller-Familien mit embedded Flash-Speicher (siehe SCIP-Daten) sowie IEEE Std 1532 CPLD und ältere PLDs. Ute Boctor, President von Digitaltest dazu: „Unsere Kunden haben sich die Integration von Boundary-Scan Testfunktionen in unsere Produkte gewünscht. Um diese Anforderungen für leistungsfähige digitale Tests und eine umfassende ISP-Unterstützung für viele Bauteile erfüllen zu können, haben wir gemeinsam mit JTAG Technologies eine integrierte Lösung entwickelt. Unseren Kunden ermöglicht dies nun eine höhere Testabdeckung, wobei die gewohnte konsistente Benutzerschnittstelle erhalten bleibt.

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