Siemens Digital Industries Software hat eine neue Zusammenarbeit mit PDF Solutions, Inc., einem globalen Anbieter differenzierter Daten- und Analyselösungen für die Halbleiter- und Elektronikindustrie, angekündigt. Ziel ist die Entwicklung einer umfassenden Lösung, die Prüfungs- und Ausbeuteanalysedaten integrierter Schaltkreise (IC) der Tessent-Software von Siemens in verwertbare Informationen umwandelt. Für gemeinsame Kunden können diese Informationen die Produktionserträge drastisch steigern und die Markteinführungszeit für neue Produkte verkürzen.
Die Tessent-Software für IC-Tests und -Diagnosen kann auf eine lange Erfolgsgeschichte zurückblicken und hilft vielen der weltweit erfolgreichsten IC-Designfirmen dabei, die Ausbeute zu steigern und die Qualität zu verbessern, indem sie auf Grundlage automatisierter Designanalysen und End-of-Line-Testdaten Daten über Fehlerursachen generiert. Die Herausforderungen in Bezug auf die Ausbeute gehen jedoch über das IC-Design hinaus und erstrecken sich zusätzlich auf die Herstellung und andere Phasen des IC-Lebenszyklus, die jeweils ihre eigenen Kategorien und Klassen von Ausbeutedaten erzeugen.
Die Erweiterungen der Produkte beider Unternehmen sollen eine umfassende Lösung liefern, die designbasierte und ausbeuterelevante Daten aus der Tessent-Software mit einer Vielzahl anderer Ausbeutedatenquellen aggregiert und analysiert, um schnell und in einigen Fällen automatisch Ausbeutekorrelationen zu analysieren und zu identifizieren, die andernfalls nicht schnell erkannt werden können.
Grundlage dieser neuen Zusammenarbeit ist die Kombination der Siemens-Software Tessent YieldInsight und Tessent SiliconInsight mit Exensio Manufacturing Analytics von PDF Solutions. Diese Zusammenarbeit bringt die Möglichkeiten der Tessent-Ausbeutetools auf den Desktop des Produktingenieurs, wodurch Silos abgebaut und Hindernisse für das bereichsübergreifende Lernen überwunden werden. Die Zusammenarbeit nutzt auch die differenzierte Fire-Daten- und Layoutmusteranalyse von PDF Solutions mit Tessent, um eine geschlossene Umgebung von End-of-Line-Tests (EOL) bis zur Verarbeitung von Fab-Wafern zu schaffen, um so systematische Ausbeuteverluste besser zu überwachen und den NPI-Prozess weiter zu verbessern.
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