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Einfache Prüfung trotz Miniaturisierung und Komplexität

Erhöhte Testmöglichkeiten und -abdeckung
Digitaltest: Einfache Prüfung trotz Miniaturisierung und Komplexität

Einfache Prüfung trotz Miniaturisierung und Komplexität
Die Tests konnten durchgeführt werden, indem ein „Virtueller Pin“ zwischen einer Boundary Scan- und einer sich in unmittelbarer Umgebung befindlichen Nicht-Boundary Scan-Komponente platziert wurde Bild: Digitaltest

Digitaltest hat eine Methode entwickelt, mit der sich auch kleinste Leiterplatten mit eingeschränktem Testzugang ganz einfach testen lassen – auch, wenn sie dicht mit winzigen Bauteilen bestückt sind. Dem Unternehmen lag eine dicht bestückte Leiterplatte (PCB) vor, auf der einige Netze nicht mit Tester-Pins erreichbar waren. Zudem enthielt das zu testende PCB einen Boundary Scan fähigen Mikrochip, der ebenfalls getestet werden musste. Um nun die bestmögliche Testabdeckung zu erreichen, musste bei dieser Anwendung eine optimale Mischung aus In-Circuit-, Funktions- und Boundary Scan-Tests gefunden werden. Das Unternehmen nutzte dabei ausschließlich die eigenen Testsystemfähigkeiten, d. h. es kamen keine Boundary Scan-Geräte von externen Herstellern zum Einsatz.

Um auch die eigene Testabdeckung erhöhen zu können wurde – zusätzlich zur Kontrolle der Boundary Scan-fähigen Komponente – das gleiche standardisierte Diagnoseprotokoll wie einem In-Circuit Test genutzt. Dabei wird mit der gleichen Funktion, mit der Daten an die Boundary Scan-Zelle ausgesendet und empfangen werden, die Funktionalität des Non-Boundary Scan-Bauteils stimuliert, indem der entsprechende Eingang angesteuert und dessen Ausgangssignale erfasst werden. Dies verhält sich im Prinzip so, als ob das Unternehmen seine eigenen Testtreiber und –Sensoren in die integrierten Schaltungen (ICs) eingebaut hätte.

Das Unternehmen griff dabei auf die aktuellen Möglichkeiten seines eigenen Testsystems zurück und steuerte die Boundary Scan-Komponenten über einfache Befehle direkt von der Benutzeroberfläche aus. Die Tests konnten durchgeführt werden, indem ein „Virtueller Pin“ zwischen einer Boundary Scan- und einer sich in unmittelbarer Umgebung befindlichen Nicht-Boundary Scan-Komponente platziert wurde.

Digitaltest konnte damit die Testabdeckung drastisch erhöhen, ohne dabei zusätzliche Kosten für externe Geräte zu verursachen. Mit diesem Konzept lassen sich auch kleinste Leiterplatten mit eingeschränktem Testzugang ganz einfach testen – auch, wenn sie dicht mit winzigen Bauteilen bestückt sind.

www.digitaltest.com

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