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Industrie 4.0 Konzept mit höherem Automatisierungsgrad

Fortgeschrittene automatisierte Testzelle für IC-Tests
Industrie 4.0 Konzept mit höherem Automatisierungsgrad von Advantest

Industrie 4.0 Konzept mit höherem Automatisierungsgrad von Advantest
Vollautomatische integrierte Testzelle für den Final-Test verbessert die Overall Equipment Efficiency (Gesamteffizienz der Anlage) und die Produktionsqualität im Halbleitertest- und Packaging Prozess. Foto: Advantest

Advantest Corporation, Anbieter von Halbleiter-Testsystemen und STMicroelectronics, weltweiter Halbleiterhersteller, haben gemeinsam eine fortschrittliche, vollautomatische integrierte Testzelle für den Final-Test entwickelt. Das System verbessert die Overall Equipment Efficiency (Gesamteffizienz der Anlage) und die Produktionsqualität im Halbleitertest- und Packaging Prozess. Das Pilotsystem wird in der Back-End-Fertigung von STMicroelectronics in Muar, Malaysia, eingesetzt.

Die Testzelle integriert die Standard-Advantest-Systeme SoC-Testsystem T2000 sowie den Tri-Temp Automotive Handler M4841 und ermöglicht das Andocken verschiedener ARVs (Autonomous Robotic Vehicles) für den Materialtransport zwischen Materialdepots und den Testsystemen. Gesteuert werden alle Abläufe vollautomatisch durch den ST Test Cell Controller (STCC). Die gemeinsam entwickelte Testzelle liefert ein umfassendes Spektrum an Betriebs- und vorausschauenden Wartungsfunktionen, um Ausfallzeiten zu minimieren und Chargenverfolgung zu gewährleisten.

Die STCC-Software überwacht und steuert die Testzelle und verbindet das Gesamtsystem an das Manufacturing Execution System (MES) von ST. Dabei handelt es sich um ein Echtzeit-Industrie 4.0-Trackingsystem, welches Fertigungsequipment sowie -prozesse online überwacht und steuert. Das vollintegrierte System gewährleistet vollautomatische Testvorgänge durch den Einsatz von Machine Learning Methoden und erhöht dadurch signifikant die Gesamteffektivität der Testzelle (OEE) bei gleichzeitiger Reduzierung der Betriebs- und Fertigungskosten.

Ein wesentliches Element der integrierten Testzelle ist der M4841 Handler, welcher über diverse Funktionen wie z.B. Speed Optimierung, Auto Socket Cleaning, Belt-Tension Monitoring, ESD Protection verfügt.

“Wir haben zahlreiche Projekte, die sich mit Automatisierung, Analytik und Optimierung unserer globalen Back-End-Fertigung befassen. Diese zielen alle darauf ab, unsere Fertigungsprozesse effizienter zu gestalten und den zunehmend komplexer werdenden Kundenanforderungen gerecht zu werden“, sagt Fabio Gualandris, Executive Vice President, Leiter der Back-End-Manufacturing- und Technologieorganisation von STMicroelectronics. „Die enge Zusammenarbeit mit Advantest ist ein gutes Beispiel dafür, was gemeinsam erreicht werden kann, um ein Netzwerk von Fabriken zu unterstützen, welches Milliarden von Chips pro Jahr testet.“

„Unseren Kunden dabei zu helfen, eine vollständig automatisierte Halbleiter-Test-Produktion zu betreiben, ist eines unserer wesentlichen strategischen Ziele“, sagt Yoshiaki Yoshida, Präsident und CEO von Advantest. „Auf die erfolgreiche Zusammenarbeit in diesem Projekt mit STMicroelectronics sind wir sehr stolz. Sie ermöglicht uns die operativen Ziele durch den Einsatz autonomer mobiler Roboter (ARVs) und sog. Overhead Transport Konzepte zu erreichen und die Anlageneffizienz zu steigern“, so Yoshida weiter. „Die integrierte Testzelle von Advantest ist hierfür konzipiert, wobei der M4841 Handler eine Fülle einzigartiger intelligenter Funktionen bietet, die den Kunden in einer sich kontinuierlich entwickelnden Halbleiter-Lieferkette erhebliche Vorteile verschaffen.“

www.st.com; www.advantest.com

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