Advantest Corporation, Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, hat eine Hochfrequenzauflösungsoption für sein optisches Terahertz-Probenentnahme-Analysesystem TAS7400TS angekündigt. Die neue Option zeichnet sich durch ein hervorragendes Preis-Leistungsverhältnis und einfache Bedienung aus. Sie bietet ein innovatives Messverfahren zur Bestimmung der Hochfrequenzeigenschaften von Funkwellenabsorbern sowie speziellen Materialien. Diese hochwertigen Komponenten sind für die Kommunikationstechnologie der nächsten Generation 6G und Millimeterwellen-Radartechnologien für ADAS Anwendungen (Advanced Driver Assistance Systems) unerlässlich.
Vektorielle Netzwerkanalysatoren (VNAs) werden häufig zur Bestimmung der Übertragungseigenschaften (Transmissions-, Reflexionsfaktor) und der komplexen Dielektrizitätskonstante verschiedener Materialien im Millimeterwellen- und Hochfrequenzbereich eingesetzt. In den letzten Jahren ist es jedoch wichtig geworden, diese Eigenschaften über ein breiteres Frequenzspektrum zu bewerten. Aufgrund des nötigen Zeit- und Arbeitsaufwands für die Einstellung und Kalibrierung jedes einzelnen Frequenzbands zeigen sich hier VNAs häufig als problematisch.
Das optische Terahertz-Probenentnahme-System des Unternehmens löst diese Probleme, indem es mit gepulsten elektromagnetischen Wellen Messungen von Materialproben über ein breites Frequenzband ermöglicht. Die Durchführung der Tests ist jetzt mit einem kompakten optischen Probeentnahme-System in der Messumgebung möglich, was Kosten und Platz spart. Mit Hilfe einer Mapping-Messung können auch Frequenzeigenschaften von Oberflächen analysiert werden. Darüber hinaus sind die Frequenzauflösung und die Abtastgeschwindigkeit der neuen Option 5x so hoch wie beim Vorgängerprodukt, so dass dies eine optimale Lösung für die Bestimmung der Hochfrequenzeigenschaften neuer Materialien ist.
Semicon, Stand B1–213
.png)
