Der Anbieter von Halbleiter-Testgeräten, Advantest Corporation, hat die Markteinführung der nächsten Generation von B6700D Memory Burn-In Testern bekannt gegeben. Damit soll dem Superzyklus des Memory Marktes, sprich der weltweit steigenden Kundennachfrage nach Server- und mobilen Datenspeicherlösungen nachgekommen werden. Durch Messung der Funktionen von NAND Flash- und DRAM-Memory Bauteilen während des Burn-In-Prozesses bieten die neuen Tester neben der hohen Durchsatzleistung auch niedrige Testkosten.
Da der Memory- Halbleiter -Markt signifikant wachsen soll, benötigen die Halbleiterhersteller schnelle und für große Volumen geeignete Testlösungen, um mit der steigenden Kundennachfrage Schritt halten zu können. Der Doppelkammer-Tester B6700D erfüllt diese Anforderung mit dem Paralleltest von bis zu 48 Burn-In-Boards bei Geschwindigkeiten bis zu 10 MHz. Dadurch kann der Memory Bauteilehersteller seine neusten Produkte bei niedrigeren Testkosten schneller auf den Markt bringen.
Der neue Memory Burn-In-Tester nutzt eine hochleistungsfähige Stromversorgung, die bis zu 256 Ampere pro Burn-In-Board liefert – doppelt so viel wie die erste Generation der B6700 Tester. Zudem verfügt der B6700D über die doppelte Anzahl an Treiber Pin Ressourcen und erreicht damit eine deutliche Erhöhung der Testfrequenzen.
Ein weiterer Vorteil des Testers gegenüber seinem Vorgänger ist die Erhaltung oder Erhöhung der Parallelität zur Beibehaltung der hohen Durchsatzleistung, da die Anzahl der NAND-Chips pro Bauelement in Zukunft weiter zunehmen wird. Darüber hinaus kann die Temperaturregelungseinheit Betriebsbedingungen replizieren und dabei die Temperatur bis auf ein Zehntel Grad genau kontrollieren.
Der Tester verwendet das gleiche Betriebssystem wie sein Vorgänger B6700 und gewährleistet somit eine vollständige Kompatibilität beider Testergenerationen. Die Bad Block Memory- (BBM), Universal Buffer Memory- (UBM) und Data Pattern Memory- (DPM) Funktionen werden unterstützt, um die NAND-Bauteileprüfung zu ermöglichen.
