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Optimierung der Tests von Hochstrombausteinen

Ultra-Hochleistungs-Netzteil für SoC Test System
Optimierung der Tests von Hochstrombausteinen

Optimierung der Tests von Hochstrombausteinen
Das DC Scale XHC32-Netzteil ist bereits bei mehreren Kunden installiert und ist bald verfügbar Foto: Advantest
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Advantest Corporation, Anbieter von Halbleitertestsystemen, hat die neueste Ergänzung seines Portfolios an Stromversorgungen für die V93000 EXA Scale SoC Testplattform vorgestellt. Das DC Scale XHC32-Netzteil bietet 32 Kanäle mit einem bisher unerreichten Gesamtstrom von bis zu 640 A und ist damit in der Lage, den schnell wachsenden Strombedarf von KI-Beschleunigern, HPC-Chips (High Performance Computing), GPUs (Graphics Processing Units) und anderen Hochleistungs-Bausteinen wie Netzwerk-Switches und High-End-Anwendungsprozessoren effizient zu decken.

Sehr hohe Stromanforderungen von 1000 A oder mehr bei Core-Spannungen unter 1 V erfordern ein ATE-System mit präzisen Stromlieferfähigkeiten. Das DC Scale XHC32 erweitert die V93000 EXA-Scale-Plattform und deckt alle Hochleistungsanforderungen mit einer einzigen Karte ab, die unbegrenzte und flexible Kanalkopplung, schnelle Lastschritt- und Clamp-Reaktionen sowie erweiterte Profilierungsfunktionen bietet.

“Unsere Kunden fragen zunehmend nach Lösungen, die parallele Multisite-Tests von 2,5/3D-Bauteilen mit extrem hohen Stromanforderungen ermöglichen“, sagte Ralf Stoffels, General Manager und Executive Vice President der Advantest V93000 Product Unit. „Mit seiner Leistung von 640A auf einer einzigen Karte und seinen innovativen Sicherheitsfunktionen für einen hohen Geräteschutz ist das DC Scale XHC32 eine hervorragende Lösung für das Testen aller Arten von digitalen Bauteilen mit hohen Stromanforderungen“.

Das DC Scale XHC32 bietet volle Anwendungskompatibilität mit der bestehenden DC Scale UHC4T-Karte und ermöglicht so einen nahtlosen Übergang zur neuen Generation von Hochleistungsnetzteilen bei effizienter Wiederverwendung bestehender Prüflingsplatinen (DUTs). Durch den Einsatz des patentierten neuen Kontaktschutzes reduziert das DC Scale XHC32 die Testkosten (CoT), da das Risiko einer Beschädigung von Testkopfkarten und Prüfsockel eliminiert wird. Diese neue Funktion ermöglicht den Kunden nicht nur ein sicheres Testen von KI- und HPC-Anwendungen mit hohen Strömen, sondern schützt auch ihre Gesamtinvestition in die Testausrüstung. Die neue High-Density-Stromversorgung ermöglicht es den Kunden, ihre Investitionen zu optimieren, indem sie kleinere Testkopf-Infrastrukturen verwenden oder die Anzahl von parallelen Tests erhöhen und die Gesamtkosten für die Testausrüstung senken.

www.advantest.com

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