Der EMS-Dienstleister EKM Elektronik GmbH & Co. KG aus Zwönitz bei Chemnitz bietet Kunden in ganz Europa mit über 90 Mitarbeitern ein breites Dienstleistungsspektrum. Angefangen bei der Leiterplattenbestückung in bleifreier und verbleiter Technologie über Reparatur, Schutzbeschichtung, Verguss und Reinigen von Leiterplattenbaugruppen bis zur kompletten Gerätemontage. Im Rahmen seiner Teststrategie prüft der Dienstleister, Digitaltest-Kunde seit 2003, seine Baugruppen mit einem Flying-Prober-System Condor. Alles lief gut, bis ein kräftiger Umsatzanstieg das Produktionsvolumen so stark ansteigen ließ, dass sich der elektrische Test zu einem echten Flaschenhals entwickelte, und der Leiterplattendurchsatz am Testsystem dem gestiegenen Produktionsvolumen angepasst werden musste. Digitaltest schlug seinem Kunden vor, die vorhandenen Möglichkeiten des Condor-Systems auszunutzen und einen Vakuumadapter zu integrieren, sodass der dann erreichbare Durchsatz wieder den gestiegenen Stückzahlen gerecht werden würde. Diese einfache Lösung sparte eine Menge Geld und erhöhte den Wert der ursprünglichen Investition in das Condor-System. Ein Applikationsingenieur des Herstellers konstruierte und installierte den Vakuumadapter. Die Ergebnisse waren hervorragend, denn mit dem neuen Adapter stieg der Leiterplattendurchsatz von 30 auf nunmehr 70 Leiterplatten in 8 Stunden. Der Einsatz des Vakuumadapters mit 90 Pins im System hat den Durchsatz mehr als verdoppelt und spart somit Zeit und Geld.
Uwe Müller, Geschäftsführer von EKM zeigte sich hochzufrieden mit der vorgeschlagenen und installierten Lösung: „Als bekannter Elektronik-Dienstleister müssen wir auf alle unsere Kundenanforderungen schnell und flexibel reagieren können. Das heißt für uns, höchste Qualität in kürzester Zeit bei hoher Testabdeckung liefern. Die Zusammenarbeit mit Digitaltest hat hierzu entscheidend beigetragen!“
Die neueste Entwicklungen beim Flying-Prober-Testsystem sind die Testköpfe, die kleinste SMT-Anschlüsse, bis herab zu 100 µm, kontaktieren können. Für das Softwarepaket C-Link wurde jetzt ein verbesserter Flying-Prober-Algorithmus entwickelt. Wenn eine Anschlussfläche von mehr als nur einem Kopf erreicht werden kann, berechnet C-Link, welcher Kopf die beste und zuverlässigste Kontaktierung bietet. Diese neue Funktionalität ermöglicht es dem Anwender, sehr robuste Testprogramme in kurzer Zeit zu erstellen. Wenn die Vorteile der Flying-Probe-Technologie und des Boundary-Scan-Verfahrens verknüpft werden, erhält man eine leistungsfähige Testlösung. Condor ermöglicht Funktionstests mit bis zu 1.012 unbewegten Prüfnadeln, die den Prüfling an der Unterseite kontaktieren. Die Kontaktierung des Prüflings erfolgt mittels magnetischem Nadelbett-Adapter oder Vakuum-Nadelbett-Adapter. Der Einsatz der Boundary-Scan-Technologie ermöglicht jetzt eine spürbare Verkürzung der Prüfzeit und bietet unter Verwendung einfacher Low-cost-Adapter eine verbesserte Testabdeckung beim Prüfling.
Unsere Whitepaper-Empfehlung
Entdecken Sie wie die automatische Röntgeninspektion (3D-AXI) in höchster Geschwindigkeit mit zweifelsfrei klaren und detailreichen Bildern bestmögliche Produktqualität sichert und die Kosten senkt.
Teilen:
