Webcast Zerstörungsfreie In-Line-Messung transparenter und semi-transparenter Beschichtungen
Vielleicht wäre manche Mars-Mission erfolgreicher gewesen, wenn die Versiegelungen der elektronischen Baugruppen mit Hilfe einer Neptune gemessen worden wären. Aber dies ist rein hypothetisch. Fakt ist, das unter den extremen Bedingungen des Weltraums manche Effekte, wie z.B. Kristallwachstum, begünstigt werden. Deshalb ist gerade hier die Versiegelung der Baugruppe wichtig, denn jeglicher Schmutz und Feuchtigkeit bilden den Nährboden für Dendriten-Wachstum.
Aber auch auf der Erde wird Elektronik unter extremen Bedingungen eingesetzt. Dabei müssen wir nicht einmal groß suchen, um solche Einsatzorte zu finden: Der Motorraum unserer Fahrzeuge, Off-Shore Windräder, e-Bikes und Vieles mehr. Überall wo es feucht und schmutzig wird oder aggressive Korrosion stattfindet, müssen die Baugruppen geschützt werden. Nur kann der Schutz selbst zum Problem werden. Auf der ungeschützten Baugruppe bilden Schmutz und Feuchtigkeit ein leitfähiges Gemisch, das die Isolationsabstände verkürzt. Ferner sorgt die Feuchtigkeit für Korrosion. Das Conformal Coating soll die Baugruppe vor diesen Gefahren schützen. Werden jedoch Schmutz und Feuchtigkeit eingeschlossen, schlummert die Gefahr unter dem vermeintlichen Schutz. Auch Blasen und Lufteinschlüsse sind Sollbruchstellen in der Schutzschicht.
Diese Gefahren kann man eventuell in einer Sichtprüfung detektieren, aber nicht die unsichtbare Gefahr der unvollständigen Aushärtung der Coating-Schicht. Ist der Coating-Auftrag zu hoch, besteht die Gefahr, dass das Material nicht vollständig aushärtet. Die verbliebene Feuchtigkeit schafft die idealen Bedingungen für Dendriten-Wachstum und Korrosion. Es ist also wichtig, die Schichtstärken kontinuierlich zu messen, damit der Beschichtungsprozess überwacht wird. Dies ist nur mit einer zerstörungsfreien Prüfung mit geringem Zeitaufwand möglich – oder besser mit einer in-line Prüfung.
Koh Young stellt mit seiner Neptune genau diese Möglichkeiten vor. Mit Hilfe der Laser Interferometry for Fluid Tomography, kurz LIFT, wird die Schichtstärke transparenter Medien innerhalb von Sekunden ermittelt. Das Webinar stellt die LIFT-Technology vor und zeigt die Anwendungsmöglichkeiten im Labor und im in-line Betrieb einer Fertigung.
Der Referent
Dipl.-Ing. (FH) Axel Lindloff Application Engineer Pre-Sales Koh Young Europe |
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Axel Lindloff hat Allgemeine Elektrotechnik an der Fachhochschule Bielefeld studiert und ist seit 1999 in der SMT-Welt tätig. Seit September 2012 arbeitet Herr Lindloff für die Koh Young Europe GmbH als Applikations-Ingenieur. Hier beschäftigt er sich hauptsächlich mit den Fragen rund um den Lotpastendruck und der Prozessoptimierung mit den gewonnen 3D-Daten. |