Advantest Corporation, Anbieter von Halbleiter-Testgeräten, hat seine H5600-Speichertester-Familie um das neue, äußerst vielseitige technische Testsystem H5620ES erweitert. Das Testsystem ist sowohl für Burn-in von Hochgeschwindigkeits-ICs als auch für den Speichertest der heutigen DDR4– und nachfolgenden DDR5-Generation, unter Laborumgebungen ausgelegt. Desweiteren unterstützt es Low-Power-Double-Data-Rate ICs (LPDDR). Durch Rationalisierung des benötigten Zubehörs sowie Verkürzung der benötigten Zeit zwischen Burn-in und Speichertests, werden die Testkosten für die Evaluierung von Speicherchips für 5G Anwendungen durch das H5620ES System drastisch gesenkt. Der Tester liefert eine hohe Produktivität durch paralleles Testen von DDR4– und DDR5-Speicherchips. Es kann Speicher-ICs mit einer Frequenz von 100-MHz und Datenrate von 200 Mbps bedienen.
Das System ist für eine einfache Anwendung in der Produktentwicklung optimiert. Sein kompaktes Design spart Platz und ermöglicht eine hohe Mobilität in Laborumgebungen. Seine offene Architektur erleichtert die Durchführung von Pick-and-Place Anwendungen, ohne dass das „Device Interface Board“ (DIB) entfernt werden muss.
Das H5620ES läuft auf dem Betriebssystem FutureSuite und gestattet so Tests unter gleichen Anwendungsbedingungen. Es ermöglicht bereits die Durchführung von gewissen Voruntersuchungen, wie z. B. eine Kontaktprüfung auf dem H5620ES-System, bevor das Produkt schließlich auf das H5620-Testsystem übertragen wird. Dadurch werden Zykluszeiten in der Produktion wesentlich reduziert.
Die Auslieferung des Testsystems wird vorrausichtlich in der zweiten Hälfte des Geschäftsjahres beginnen.
