AOI-Sorglos-Paket

Auf dem Stand von Orbotech waren die neuesten Systemmodelle zur Automatischen Optischen Inspektion mit integrierten Werkzeugen zur Prozessüberwachung und Verifikationsstationen zu sehen. So ist das nach dem Reflowprozess eingesetzte Vantage S22 AOI-System eine ökonomische Lösung, ausgestattet mit der 3D-Technologie zur Fehlererkennung und der Wizard-&-Go-Funktion. Das ebenfalls nach dem Reflowprozess eingesetzte Symbion S36 AOI-System beinhaltet die DPIX-Detektionstechnologie, die benutzerfreundliche Wizard-Schnittstelle sowie die Advisor-Software, die dem Anwender einen Echtzeit-Zugang zu Daten und Zeit zur Analyse und Verbesserung des Prozesses bietet. Das Symbion P36 AOI-System ist zur Inspektion und Vermessung des Lotpastenvolumens. Es verwendet die POP(Parallel Optical Path)-Technologie mit 2D- und 3D-Techniken zur Fehlererkennung, um eine hohe Fehlerabdeckung und Geschwindigkeit für die Inspektion aller Lotpastendepots auf der Leiterplatte zu erreichen. „Als globaler AOI-Spezialist für unsere Kunden bewegen wir uns mit der gesamten Breite unserer Lösungen an vorderster technologischer Front. Wir ermöglichen den deutschen Herstellern, den Einfluss der AOI auf ihre Prozesse zu maximieren und nicht nur Fehler zu finden, sondern diese auch zu verhindern“, versichert Yoav Harel, Präsident der Orbotech S.A. „Die Marktresonanz auf unsere neuesten AOI-Plattformen Symbion und Vantage ist äußerst viel versprechend. Seit ihrer Einführung vor zwei Jahren haben wir bereits mehr als 500 Geräte dieser neuen AOI-Generation weltweit verkauft, und verfügen damit über eine Installationsbasis von mehr als 1500 Systemen. Dies verdeutlicht den Wert, den unsere fortgeschrittenen Systeme für die Kunden als Teil ihrer Strategie zur Qualitätsüberwachung darstellen. Höhere Qualität, verbesserte Ausbeute und gesteigerter betrieblicher Nutzen bei niedrigeren Produktionskosten sind das Ergebnis.“

EPP 464