Mit dem Softwarepaket TDSJIT3 hat Tektronix die Jitteranalyse seiner Oszilloskope der Baureihen TDS-5000/6000/7000 und CSA-7000 weiterentwickelt. Dadurch sind diese in der Lage, über angrenzende Taktzyklen hinweg Jittermessungen an jedem gültigen Impuls durchzuführen. Dazu ist lediglich eine einzelne Signalerfassung nötig. Auf diese Weise lässt sich beispielsweise innerhalb einer erfassten Sequenz die Setup-Zeit einer bestimmten Impulsflanke bezogen auf die jeweils korrespondierende Taktflanke exakt messen, vorausgesetzt, dass der Signalübergang gültig ist. Die Signaleinspeisung kannüber Standard- und Differenz-Tastköpfe erfolgen, wobei auch mehrere Oszilloskopkanäle und Kanal-zu-Kanal-Messungen zulässig sind. Am Bildschirm lassen sich die Resultate meh-rerer Messungen einschließlich der zugehörigen Plots abbilden. Dabei geben Trend-Plots darüber Auskunft, wie sich diverse Timingparameter über die Zeit hinweg verhalten. Mit Hilfe dieser Plots lässt sich beispielsweise eine Frequenzdrift oder die Auswirkung von Veränderungen an der Stromversorgung auf ein Taktsignal beobachten. Zu jeder Messung stehen Statistiken und Histogramme der Timingparameter auf Abruf bereit. Auch eine Einordnung nach zufälligem oder deterministischem Jitter (Rj/Dj) sowie eine Voraussage der Bitfehlerrate sind möglich.
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