Testhandler für Mikrosysteme

Für Mikrosysteme und Sensoren hat IC-Automation den vollautomatischen Testhandler Leonardo vorgestellt. Nach Herstellerangaben ermöglicht das Gerät, Mikrosysteme nahezu jeder Art vollständig, realistisch und schnell zu prüfen. In einem vollautomatischen Testdurchlauf können nicht nur elektrische, sondern beispielsweise auch optische oder magnetische Funktionen überprüft werden. Durch seinen modularen Aufbau vereint das System nach Herstellerangaben die Vorteile standardisierter Testhandler mit denen von Einzelgeräten und ist als Alternative zu aufwändigen Einzellösungen gedacht. So ist die Beschi-ckung des Testbereichs standardisiert, die Testanordnung dagegen exakt auf das jeweilige Mikrosystem zugeschnitten. Damit werden beispielsweise Systeme mit Lichtsensoren nicht wie in bisherigen Verfahren durch einen Anpress-Stempel in der elektrischen Kontaktstelle gehalten, sondern durch die mit einem Greifer ausgestattete Kontaktstelle selbst. Das ermöglicht parallel zum elektrischen Test ein Beleuchten der kompletten Chip-Oberfläche mit beliebigen Mustern. Die projektspezifischen Testaufbauten werden in der Regel von den Mikrosystem-Herstellern gefertigt, IC-Automation bietet aber auch die Entwicklung und Herstellung dieser Aufbauten als Dienstleistung an.