Zu Beginn des dritten Jahrtausends nach unserer Zeitrechnung steckt die Elektronikfertigung in einer Phase des Umbruchs. Nach einhelliger Expertenmeinung...
Archiv März 2001
Das Funktionstestsystem Spider von IPE mit In-Circuit-Testfunktionen besteht aus einem 3 HE hohen PXI-Mainframe mit 21 Slots und einem Scanner aus mehreren...
Die VT & VC Baureihe von Vötsch zeichnet sich nach Herstellerangaben durch geringen Wasserverbrauch, kurze Reaktionszeiten und hohe Langzeitkonstanten...
Das HPB-2 System von Micro Control (Vertrieb Simac Masic & TSS) eignet sich für Burn-in-Tests an VLSI-Bausteinen mit maximal 150 W Wärmeerzeugung. Der...
Der auf PXI-Modulen basierende Funktionstester ATX 40 von Göpel für ist für Fertigungslinien mit hohem Durchsatz konzipiert. Er kann z.B. I/O-Baugruppen je...
Der Signalgenerator SML von Rohde & Schwarz erzeugt amplituden-, frequenz- und phasenmodulierte HF-Signale zwischen 9 kHz und 1,1 GHz. Die Frequenz kann...
Das Mixed-Signal IC-Testsystem Electra von IMS vereint analoge Testmodule mit ei-ner digitalen Teststation. Zur Ausstattung gehören u.a. -130 dB Noisefloor...
Um eine breite Palette fahrbarer Rechner-/Drucker-Mobile, 19-Zoll-Racks, Labor- und Gerätewagen hat Haid sein Möbelprogramm Swing erweitert. Kernstück...
In dem Artikel „wirtschaftlichkeit sichergestellt“ in der EPP-Ausgabe 11/12 2000, Seite 92 über den Einsatz des AOI-Systems OptiCon in der...
Syntel stellt das AOI-Testsystem Argus von Modus-Electronics vor, das auf Scannerbasis beruht und für die Bestückungs- und Lotpastenkontrolle geeignet ist...
