Das optische Inspektionssystem ScanPoint DT von Syntel Testsysteme zur Inspektion von bestückten Leiterplatten ist mit einem schnellen A3 Farbscanner mit...
Archiv Februar 2005
Sharp Microelectronics hat das klassische Stacking Verfahren zur Herstellung von Multilayer Speichereinheiten weiterentwickelt. Anstatt die Produktion...
Für Klein- oder Vorserien, Wareneingangskontrollen, Erstbemusterung und Reparaturen ist eine wirtschaftliche Prüfung von elektronischen Baugruppen durch das...
Zur Vereinfachung komplexer Testabläufe beim Testen drahtloser Baugruppen oder von Geräten mit Funkschnittstellen hat Rohde & Schwarz einen HF...
Tecnomatix hat in Zusammenarbeit mit Reinhardt eine Software erstellt, die aus den Daten von CAD-Systemen oder auch Bauteillisten Daten generiert, die zur...
Optiprint konnte an seinem Stammsitz in der Schweiz eine Multilayer-Vakuum-Verpressanlage von Lauffer installieren, die so konzipiert ist, dass damit auch...
Mit optischen Schalter-Komponenten konnte Omron erschwingliche FTTH-Lösungen (Fibre-to-the-home) mit extrem großer Bandbreite realisieren. Zu diesem Zweck...
National Instruments gab die Einführung des NI PCI-5124, eine PCI-Version des 12-bit-Digitalisierers im PXI-Format mit einer Abtastrate von 200 MS/s bekannt...
Eine 3D-Messmaschine von LPKF ermöglicht es, in sehr kurzer Zeit feinste Strukturen mit einer Z-Auflösung von unter 0,5 µm einer 100%igen Prüfung bzw...
Zur electronica 2004 stellte IPTE den universellen Kombitester elVIS (electrical and vision test box) vor, dessen Grundsystem auf engstem Raum Platz für...