Zur electronica 2004 stellte IPTE den universellen Kombitester elVIS (electrical and vision test box) vor, dessen Grundsystem auf engstem Raum Platz für mehrere Prüfapplikationen bietet. Je nach Kundenanforderungen kommen optischer Test, In-Circuit-Test oder Testeinrichtungen für mechanisch basierte Prüfungen zum Einsatz. Die prüflingsspezifischen Testapplikationen lassen sich mit Hilfe von Schnellspannvorrichtungen wechseln, die Steuerung der typspezifischen Testvorgänge erfolgt über Barcode, wodurch der Tester flexibel einsetzbar ist. Fehlermeldungen stehen über die Datenausgabe für Reparaturplätze zur Verfügung, optional sind auch Reparatur-Software sowie Anbindungsmöglichkeiten an Datenbanken lieferbar. Basis für die optische Kontrolle ist die elVIS-Box, eine flexible Lösung zur Prüfung von Displays, LEDs, 7-Segment-Anzeigen und Aufdrucken. Der In-Circuit-Test für den flexiblen Kombi-Tester ist auf PXI-Technologie realisiert. Für mechanische Prüf-Anwendungen stehen Applikationen für die Kontrolle von Tasten und Rändelrädern zur Auswahl. Die mechanischen Abmessungen des Testers betragen 600 mm in der Breite sowie 1 m in der Tiefe, er ist sowohl für Inline- als auch für Offline-Betrieb lieferbar. Beim Inline-Betrieb können Baugruppen direkt auf dem Transportband angeliefert werden, für Komplettgeräte erfolgt der Transport auch mit Werkstückträgern. Beim Offline-Betrieb gelangen die Prüflinge über eine Schublade in den Tester, eine Variante als Tischgehäuse des Testers ist lieferbar.
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