Das neue digitale Low-Cost-Modul CION FXT114S CION von Göpel wird seriell über einen TAP (Test Access Port) angesteuert und bietet insgesamt 114 parallele...
Archiv Mai 2008
Die Option FLX-CVU von Essemtec prüft die elektrischen Bauteileigenschaften direkt auf der Bestückungsmaschine und ermöglicht so eine hohe...
Die heutige Elektronikfertigung ist von Forderungen nach höchster Qualität, klar definierten Prozessen und Parametern sowie der Nachweispflicht über deren...
Elektronische Baugruppen werden immer kleiner und kompakter. Dies hat zur Folge, dass auch die Rasterabstände und Testpunkte immer mehr schrumpfen. Die in der...
Die aus einem Entwicklungsunternehmen mit Schwerpunkt Industrieelektronik hervorgegangene Herkules Elektronik GmbH in Baunatal verfügt über ein...
Das kompakte und modulare Röntgeninspektionssystem X8011 von Viscom ist für eine Vielzahl von Prüfaufgaben einsetzbar. Die Schrägdurchstrahlung des...
Westliche Elektronikhersteller behaupten sich im Gegensatz zur landläufigen Meinung gut im modernen Weltmarkt, da sie mit Hilfe logistischer Prinzipien...
Nach wie vor sorgt der Begriff 'JTAG' für Verwirrung, denn für einige Ingenieure ist es ein Programmierport, während es für andere eher eine...
Moderne ATE-Systeme können aus einer komplexen Kombination von Hardware- und Software-Technologien bestehen. Im Gegensatz zu den Testsystemen der...
Pneumatische Adapter spielen eine wichtige Rolle in der Prüftechnologie. Sie stellen über Federkontaktstifte eine elektrische Verbindung zwischen dem zu...