Das neue digitale Low-Cost-Modul CION FXT114S CION von Göpel wird seriell über einen TAP (Test Access Port) angesteuert und bietet insgesamt 114 parallele Testkanäle für JTAG 1149.1, von denen 50 auch den Standard 1149.6 unterstützen. Aufgrund seines geringen Platzbedarfs ist es zur direkten Integration in Testfixtures geeignet. Das I/O-Modul ermöglicht Prüfungen von High-Speed-Schnittstellen, es weist 64 einpolige Testkanäle auf. Dabei sind alle Kanäle unabhängig als Input/Output/Tristate schaltbar und können in Gruppen von jeweils 32 zwischen 1,8 bis 5,0V spannungs-programmiert werden. Weitere Features sind in diesem Bereich die erhöhte Strom-ergiebigkeit und spezielle Sicherheitsmechanismen wie Unstress zum Schutz des Prüfobjekts gegenüber Beschädigungen im Kurzschlussfall. Zusätzlich sind auch 50 differentielle Kanäle (LVDS) für die Standards IEEE1149.1 und IEEE1149.6 verfügbar. Davon sind jeweils 25 als Input und 25 als Output konfiguriert. Damit ist das Modul für viele Anwendungen einsetzbar, beispielsweise dem Test nicht scanfähiger Schaltungscluster, Steckverbinder, Backplanes und AC-gekoppelten digitalen Netzwerken eine interessante Lösung. Aufgrund der transparenten TAP können auch mehrere Module gleichen oder unterschiedlichen Typs nach dem Daisy-Chain-Prinzip kaskadiert werden. Die Hardware wird von allen Boundary-Scan-Controllern der ScanBooster oder Scanflex-Familie sowie der integrierten Softwareplattform System Cascon unterstützt. Anwender können das Module in eine Applikation integrieren, die Testvektoren automatisch generieren, falls nötig interaktiv debuggen und eventuelle Fehler auf Pin- und Netzlevel im Layout visualisieren.
SMT, Stand 7-318, 7-404
EPP 491
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