Cascade Microtech präsentiert die Messplattform M150, die Messungen an Bauteilen bis zu einer Größe von 150 mm über den kompletten Frequenzbereich von DC bis 220 GHz ermöglicht. Auf einer Plattform können höchst unterschiedliche Produkte, von Halbleiter-Wafern und ICs über Leiterplattenbaugruppen und MEMS bis hin zu biowissenschaftlichen Komponenten getestet werden. Innerhalb von Minuten kann zwischen verschiedenen Anwendungen gewechselt werden, da die Plattform unter Verwendung von austauschbaren Standardteilen und anwendungspezifischem Spezialzubehör für die jeweilige Aufgabenstellung vom Anwender konfiguriert wird. Geeignet für Anwendungsbereiche wie der Halbleiterproduktion zur Optimierung der Fertigungsausbeute, der Ausfallanalyse und der Prozessentwicklung und Bauteilmodellierung. Zur Diagnose von Signalintegritätsproblemen bei Leiterplattenbaugruppen und Hochgeschwindigkeits-Steckverbindern, und unter anderem als neue Technologie zur genauen Positionierung, Navigation und Analyseergebnis-Darstellung für Anwendungen wie Lab-on-a-Chip oder MEMS-Systeme. Wahlweise kann die Plattform als anwendungsspezifisch vorkonfiguriertes Paket erworben, oder beliebig nach Kundenwunsch konfiguriert werden.
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