Agilent Technologies stellt das AXI (Automated X-Ray-Inspection)-System Medalist x6000 vor, das laut Herstellerangaben die Testkosten des Anwenders verringert und zugleich eine hohe Fehlerabdeckung dank 3D-Technologie gewährleistet. Die gesamte Baugruppe wird mit Inline-Geschwindigkeit inspiziert, die 3D-Inspektion ermöglicht die Unterscheidung zwischen Ober- und Unterseite der Leiterplatte, wobei meistens beide Seiten eine hohe Lötstellendichte aufweisen. Eine Entwicklungsumgebung, die diverse Automatismen für die Entwicklung von Inspektionsprogrammen bereitstellt, macht die Erstellung der Programme einfach und schnell. Kent Dinkel, der Marketing Manager für AXI-Lösungen im Unternehmen: „In dem neuen Medalist x6000 steckt unsere gesamte AXI-Erfahrung. Das System kombiniert neueste 3D-Technologie mit unerreichter Durchsatzleistung und Fehlerabdeckung, und ist dadurch eine ideale Lösung zum Inspizieren moderner, hochkomplexer Baugruppen.“
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