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Anwendertreffen für Flying-Probe-Test

Plattform zum Informations- und Gedankenaustausch für Nutzer eines Boardtesters
Anwendertreffen für Flying-Probe-Test

SPEA entwickelt und produziert automatische Testssysteme für Mikrochips und elektronische Baugruppen, die in allen Hightech-Bereichen, unter anderem Luft- und Raumfahrt, Telekommunikation, Automobilindustrie, Konsumer- und Sicherheitstechnik, einsetzt werden. Industriezweige, deren fortschreitende Miniaturisierung und Komplexität der Bauteile zur Sicherstellung der korrekten Funktion eine sehr genaue Prüfung fordern. Ein Anwendertreffen zur SPEA-Serie 3030 lieferte den teilnehmenden Anwendern ergänzende Informationen, der Abend bescherte auf der Ehrenburg eine Zeitreise in die Welt der Burgfräuleins und Ritter.

Der Verbraucher erwartet eine einwandfreie Funktion und fehlerfreie Lebensdauer seiner Produkte. Diesen Erwartungen kann ein Hersteller nur durch eine genaue Prüfung der Produkte gerecht werden. SPEA trägt dazu einen Teil durch die Boardtester der 3030-Reihe bei, ein Grund, um ein Anwendertreffen zu initiieren. Der zweitätige Event informierte seitens des Unternehmens zu den Systemen, deren Einsatzmöglichkeiten wurden durch verschiedene Anwender verdeutlicht.

Das Unternehmen informiert
Vom Manufacturing Defects Analyzer bis zum High-Performance-System bieten die Boardtester des Unternehmens die Lösung für parametrische und dynamische Funktionstests auf Komponenten-, Cluster- und Boardebene. Sie sind weltweit im Einsatz, konzipiert für den Gebrauch rund um die Uhr, und zeichnen sich durch hohe Fehlerabdeckung, kurze Testzeiten und minimalen Folgekosten aus. Uwe Winkler begann nach seiner Begrüßung mit den Meilensteinen des SPEA 3030, wo sich Ende 2002 die Frage stellte, ob diese Systemfamilie überhaupt weiterentwickelt werden sollte. Im Frühjahr des nächsten Jahres startete man die Entwicklung mit der Zielsetzung, die vorhandenen Systemfamilien zu ergänzen, jedoch mit höherer Testgeschwindigkeit, einer kompakteren Bauform mit minimalem Footprint sowie einer maximalen Flexibilität und Modularität. Das Ergebnis konnte im Juni 2004 als erster Prototyp auf der SMT in Nürnberg vorgestellt werden. Noch im selben Jahr wurden drei der Systeme an E.G.O. Oberderdingen und Balingen, sowie zwei weitere Systeme zu Marquardt in Rietheim-Weilheim, ausgeliefert. Im Herbst 2005 war es dann soweit mit der Vorstellung des 3030-ILR mit einer integrierten Inline-Kontaktiereinheit, es folgten die 3030 Multimode Power und die Umsetzung des Konzepts für einen Paralleltest. Die Anzahl der verkauften Systeme, die in einem weiten Anwendungsbereich der Industrie zu finden sind, steigert sich kontinuierlich. Aktuell sind 220 Systeme verkauft.
Falvio Tronzano von Spea S.p.A. berichtete über die verschiedenen Modell und den Adaptierungsmöglichkeiten. Der Wechsel von einem anderen Testsystem auf SPEA 3030 ist innerhalb von wenigen Stunden möglich. Dank der breiten Palette an Adaptierungsmöglichkeiten und zur Verfügung gestellten Schnittstellen können die Adapter der alten Systeme wie auch die Testprogrammerstellung samt den Bibliotheken einfach übernommen werden. Die Mehrzweckplattform kann je nach Bedarf nachträglich verändert oder auch erweitert werden. Das System selbst ist einfach zu installieren, eine Druckluft- oder Vakuumversorgung ist nicht erforderlich. Die Möglichkeit für Multifunktionstests eröffnet die Durchführung verschiedenster Prüfschritte und Operationen zeitgleich in einer einzigen Testphase. In der Paralleltestfunktion werden mehrere Baugruppen gleichzeitig getestet, dabei stehen verschiedene Konfigurationen zur Verfügung. Multi-Stage für die zeitgleiche, parallel und un- anhängig voneinander stattfinden- de Durchführung unterschiedlicher Testprogramme. Die Ausführung jeder Testoperation zeitgleich auf mehreren Boards ermöglicht die Multi-Bay-Konfiguration, während Multi-Station der Reduzierung von Taktzeiten in der Produktionslinie dient.
Michael Suppa berichtete über die Qualitätssicherung in der Elektronikfertigung „Compass“, welches paperless die Daten von Prüf- und Testsystemen, unabhängig vom Hersteller, erfasst und Reparaturzeit einspart. Es gestattet ein Online-Monitoring vom Schreibtisch aus, ermöglicht eine Baugruppentraceability und zeigt den Prozessstatus von Aufträgen. Zusätzlich wird mit dem Modul „Gerätemontage“ der Zusammenbau kompletter Geräte überwacht.
Über die Integration von Göpel Scanflex kam Detlef Dein zur Sprache, das einen Test von komplexen digitalen Komponenten ohne Testpattern am 3030, von nicht kontaktierbaren Netzen durch „Silicon Nail“ (komplette Boundary-Scan-Netze) und von einseitigen BSC-Netzen durch digitale Testkanäle des 3030, ermöglicht. So können Handlingszeiten durch den Test an einem System eingespart werden, um zumindest einen der Vorteile zu nennen. Eine höchste Fehlerabdeckung ist durch Kombination der verschiedenen Testverfahren realisierbar.
Anwender berichten
Sven Schwarzberg sprach über den Einsatz der Spea-Testsysteme im Hause Marquardt. Als Spezialfabrik für Elektrobedarf und Feinmechanik im Jahre 1925 gegründet, bewegt sich das Unternehmen heute im Bereich von Fahrberechtigungssystemen und Bedienfeldern für Kraftfahrzeuge. Zuständig für die Elektronikfertigungsplanung ist die Abteilung AOIE, mit der Aufgabe der Planung und Realisierung des Adapters und der Prüfapplikation sowie die Betreuung von laufenden Produkten und Anlagen für das Unternehmen weltweit. Die verschiedenen Testsysteme sind an den Standorten in Tunesien, Rumänien, China, den USA und in Deutschland verteilt. Der Leitrechner wird durch hauseigene Software versorgt, eine SPS von Beckhoff ist für die Kommunikation zwischen Leitrechner und Testsystem verantwortlich. Ein 2D-Barcodeleser erfasst die Seriennummer, Compass dient zur Messdatenerfassung. Der Leitrechner kontrolliert den Prüfablauf, ist verantwortlich für die Kommunikation, verarbeitet die Messdaten für ein internes Qualitätstool und schreibt Seriennummern und Prüfbytes ein. Die Leiterplatten sind zu 99 % Eigenentwicklungen des Unternehmens, so dass durch die rechtzeitige Erstellung von Prüfmittelstrategien mit der Entwicklung und dem Qualitätswesen großer Einfluss auf die Prüfbarkeit und Prüftiefe genommen werden kann. Für die Zukunft plant das Unternehmen, die Leitrechnerapplikation auf den PC des Testsystems zu übergeben, es soll eine Kommunikation zwischen den Programmen über Visual Basic sowie eine genauere Auswertung der Messergebnisse für Active Traceability statt finden, alles als Paperless Repair.
Über die Erfahrungen bei der Inline-Integration des 3030 mit eigener Kontaktiereinheit berichtete Thorsten Ziems von Miele und Cie. KG. Der Bereich Electronic Dienstleistungen für Miele schloss sich im Jahre 2003 aus „Elektronik Entwicklung“ und „Elektronik Fertigung“ zusammen. In 14 Schichten in der Woche mit 102 Stunden Linienlaufzeit werden Millionen von Bauteilen bestückt. Veränderte Anforderungen machten den Einsatz neuer ICT unabdinglich, und man entschied sich nach eingehender Prüfung der Soft- und Hard-Skills im Unternehmen für eine 3030 als zukunftssicheres System. Zur Integration in bestehende Handlingsysteme musste ein spezifisches System entwickelt werden, welches unter anderem einen vollen Zugriff auf alle Schnittstellen gewährt, um das Messsystem in einen vorhandenen Handler einzupassen. Die Barcodeverwaltung musste eingebunden, und das Miele-Auswahlmenü, basierend auf Teilenummernstamm, integriert werden. Die Datenübermittlung an das MES-System musste angepasst und ein Fernzugriff über die eigene VNC-Remote-Verbindung möglich sein. Dann erörterte er die Anforderung an Testsysteme im Hinblick auf die Mehrstandortstrategie, indem er die SPEA-Linienhandler für SMD-Inline-Linien, Handler für THT-Offline-Linien, Adapter-System-Wechselkits in- und offline sowie die Debug Station mit dazugehörigen Features vorstellte.
Bei SEW Eurodrive wird eine pneumatische Kontaktierung auf dem 3030-System verwendet. Das war durch Alexander Merk vom Unternehmen zu hören, das Produkte aus der Schaltschranktechnik und dezentralen Technik herstellt. Durch Integration einer pneumatischen Presse von Engmatec ergeben sich zum Beispiel eine schnelle und einfache Umrüstung oder auch viel Platz für Zusatzelektronik auf den Adaptern. Doch es sind nicht unerhebliche Kosten damit verbunden, um diese Variante in Betrieb nehmen zu können.
Über die Einführung des 3030 in die bestehende Infrastruktur bei E.G.O. sprach Klaus Wagner. Gesetzte Ziele wie die Reduzierung der ICT-Prüfzeiten um 20 %, der Taktzeiten für Relaisbaugruppen um 50 % oder des Kapazitätsaufbaus entsprechend dem Bedarf mit der Option des späteren Um- bzw. Ausbaus der Systeme, machten zur Realisierung die Anschaffung von zwei Easytestsystemen mit VG-Schnittstelle zur Kapazitätssteigerung bei der Relaisbaugruppenfertigung notwendig. Das Adapterkonzept wurde geprüft und eine Taktzeitverkürzung verifiziert. SPEA erstellte die ersten Applikationen und vier Mitarbeiter wurden an den neuen Systemen geschult. Nach und nach wurden ein drittes System für die Prüfung der Steuerteil-Baugruppen und zwei Inline-Systeme für die Highrunner-Baugruppen mit der Möglichkeit des Paralleltests angeschafft. Etwas später konnten die Inlinesysteme mit Paralleltest aufgerüstet werden. Ergänzend dazu berichtete Thomas Mittermüller, ebenfalls von E.G.O., über den Einsatz der 3030-Systeme. Im Unternehmen werden einmalig bei einem Wechsel des Produkts oder Adapters Informationen aus den einzelnen Konfigurationsdateien eingelesen, die nötigen Dateien in ein lokales Verzeichnis kopiert und eine Konfigurationsdatei angelegt. Dadurch wird das Arbeiten bei jedem weiteren Programmstart mit den lokalen Einstellungen und Dateien ermöglicht. Dies bringt eine verkürzte Projektierungsphase, verkürzte Zeit für den Adapterbau und eine vereinfachte Pflege der Programme. Es sind kurze Reaktionszeiten bei Änderungen realisierbar, und alle Möglichkeiten einer eignen Software gegeben. Ein Nachteil ergibt sich durch die Overhead-Laufzeit.
Der Power-Test mit dem Multimode 3030 wurde von Andreas Lanz der Siemens AG, Berlin, vorgestellt. Im Bereich Energy Sector, Power Distribution, tätig, bietet der Standort Berlin modernste Entwicklung und Fertigung mit einem weltweiten Logistikzentrum. Hergestellt werden Schutzgeräte für die Versorgung und Verteilung, von der Primärenergie bis zur Stromverteilung. Ca. 750 Mitarbeiter verarbeiten auf 20.000 m² Produktionsfläche 165 Mio. Bauelemente im Jahr, und stellen 125.000 Geräte her. Geliefert wird in über 140 Länder. Hier finden neben diversen PC-Plätzen der Flying Probe 4040, drei Unitest-Systeme, fünf TSAP von Rohde & Schwarz und drei Multimode 3030 ihren Einsatz. Die Entscheidung fiel auf eine BZIF-Schnittstelle, da eine Lösung für die TSAP-Testsysteme gefunden werden musste. Ein TSAP-Adapter kann auf dem 3030 kontaktiert werden, indem die Adapter durch einen Zwischenadapter kontaktiert werden. Dazu müssen die beiden vorderen Niederhalteraufnahmen umklappbar gestaltet sein, erklärte Herr Lanz.
Der letzte Erfahrungsbericht war von ebmpapst St. Georgen zum Einsatz des Testsystems 3030-C von Klaus Fleig. Mit klaren Vorgaben an die Testsystemhersteller ging das Unternehmen an die Entscheidungsfindung. Gefordert war eine zukunftsweisende und ausgereifte Technologie bezüglich Hard- und Software, kürzere Prüfzeiten bei gleicher Prüftiefe, reproduzierbare Testergebnisse von einem Testsystem zum anderen sowie eine durchgängige Linie bei der Datenaufbereitung. Das System sollte mindestens 10 bis 15 Jahre verfügbar sein, eine Supportmöglichkeit bei Fragen zum System oder Applikation musste genauso gegeben sein wie das parallele Programmieren von Prozessoren und die problemlose Erweiterung dieser Bibliotheken. Der Ausschlag für SPEA gab die einheitliche und durchgängige Softwarelösung Leonardo von den CAD-Daten bis zur Programmerstellung, die freie und offene Programmgestaltung im Funktionsbereich, die Schnelligkeit im Testdurchlauf, Supportmöglichkeiten durch ein großes Spezialistenteam, die Erweiterungsfähigkeit für neue Projekte sowie das parallele Programmieren von Prozessoren über OBP. Dies führte dazu, dass die Projekterstellung nach der internen Einarbeitungsphase um durchschnittlich eine Woche reduziert wurde. Die Daten für den Adapterbau wurden im Schnitt eine halbe Woche früher angeliefert, so dass die Prüfbarkeit einer Baugruppe schon unmittelbar nach Projektstart durchgeführt, und eine eventuelle Nacharbeit eingeleitet werden konnte. Die Module aus schon erstellten Projekten können nach Anpassung schnell anderweitig verwendet werden, und die Prüfzeiten verringerten sich um bis zu 40 % bei verbesserter Qualität der Tests und Produkte. Eine Steigerung der Wettbewerbsfähigkeit des Unternehmens sind die Folge. Abschließend war noch über die Zukunftspläne bezüglich eines Ausbaus in den Teststrategien zu hören. Viele neue Ideen zum Einsatz der 3030-Familie!
Der Abend nach dem ersten Eventtag wurde traditionell auf der Ehrenburg an der Mosel mit Ritter-Wettkämpfen und einem altertümlichen Abend verbracht, der mit viel Kommunikation und Wissensaustausch der Teilnehmer zu Ende ging. (dj)
electronica, Stand A1.225
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