Das 7. X-ray Forum der Produktlinie phoenix-Xray von GE Sensing & Inspection Technologies findet am 30. August sowie 1. September 2011 im Estrel Convention Center in Berlin statt. Als Anwendertreffen richtet es sich an aktuelle und zukünftige Nutzer hochauflösender micro- und nanofocus Röntgeninspektions- und 3D-Computertomographie-Systeme in Wissenschaft und Wirtschaft, unter anderem aus den Bereichen Lötstelleninspektion, Materialwissenschaften, Gussteilinspektion, 3D-Metrologie und Fehleranalyse. Vielfältige Lösungsmöglichkeiten der modernen 2D- und 3D-Röntgentechnologie werden vorgestellt. Die Referenten sind überwiegend Anwender dieser Systeme, die in praxis- und lösungsorientierten Vorträgen über die Anwendung dieser Technologie zur Lösung ihrer spezifischen Probleme berichten. Darüber hinaus werden neue Entwicklungen des Unternehmens präsentiert.
Unsere Webinar-Empfehlung
Die Zuhörer erhalten Informationen zur Effizienzsteigerung von AOI-Systemen bei Nutzung von Digitalen Zwillingen von der zu prüfende Baugruppe bzw. des eingesetzten Inspektionssystems.
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